集成电路中测试概述（三）

这篇文章讲一下基于JTAG 的可测性设计。

JTAG也称作边界扫描，最初是由欧洲的一些测试工程师提出的标准，该种测试技术指的是在芯片的边界上加上串行移位寄存器，以实现对芯片的测试，这种技术称为边界扫描。下图是边界扫描寄存器的原理，边界扫描单元组成扫描链将被测试设计包围了起来。

 

采用边界扫描技术进行测试的时候，需要进行如下的操作：

1）将测试向量载入到边界扫描单元，此操作应该串行完成

2）将边界扫描单元中的内容载入到设计中，此操作应该并行完成

3）将设计中响应移入到边界扫描单元，此操作应该并行完成

4）将响应从边界扫描单元移出，此操作应该串行完成

在一个扫描链中包括TDI和TDO接口。通过TDI接口将测试向量串行载入到边界扫描单元。然后通过边界扫描单元的并行端口，