CPK的概念及其算法

最新推荐文章于 2024-09-24 16:32:19 发布

弱冠身,知命心

最新推荐文章于 2024-09-24 16:32:19 发布

阅读量10w+

点赞数 24

分类专栏：计算公式 Java 文章标签： Cpk的计算 Cpk的概述 Cpk的作用 cpk组内和整体的计算制程能力指数

本文链接：https://blog.csdn.net/jbfx455l/article/details/81634690

版权

Java 同时被 2 个专栏收录

5 篇文章 0 订阅

订阅专栏

计算公式

1 篇文章 0 订阅

订阅专栏

什么是CPK？

CPK（Process capability index 制程能力指数 | 工序能力指数 | 过程能力指数）表示制程能力满足技术标准的程度。

CPK有什么用？

工序能力是表示生产过程客观存在工序能力是表示生产过程客观存在着分散的一个参数。但是这个参数能否满足产品的技术要求，仅从它本身还难以看出。因此，还需要另一个参数来反映工序能力满足产品技术要求（公差、规格等质量标准）的程度。这个参数就叫做 CPK(工序能力指数)，它是技术要求和工序能力的比值。

对于任何生产过程，产品质量总是分布的存在着。若cpk的值越大，表明产品质量特性值的分散就越小，工序能力就越高，反之，若cpk的值越小，表明产品质量特性值的分散就越大，工序能力就越低。当然cpk的值并非越大就越好，而应该在一个合适的范围内取值。

CPK的计算

计算公式 Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|)

Cp表示制程精密度，反应的是散布关系即离散趋势

Ca表示制程准确度反应的是位置关系即集中趋势

Cp的计算

单侧规格：只有 USL(Upper Specification Limit 规格上限)或 LSL(Low Specification Limit 规格下限)或 C (Center Line 规格中心)的规格；此时的数据越接近上限或下限越好；

双侧规格：有上下限与中心值,而上下限与中心值对称的规格；此时数据越接近中心值越好。

=(X1+X2+。。。+Xn)/n 平均值(n为样本数)

=USL-LSL 规格公差

$\huge \delta = \sqrt{ \frac{ \left ( x_{1} - \bar{x} \right )^{2} + \left ( x_{2} - \bar{x} \right )^{2} + \left ( x_{n} - \bar{x} \right )^{2} }{(n - 1)}}$ 样本标准差

1、双规格：

$\huge Cp = \frac{ USL - LSL}{ 6 \delta }$

或

$\huge Min ( Cpu, Cpl )$

2、只有规格上限和规格中心的规格：

$\huge Cpu = \frac{ USL - \bar{X}}{ 3\delta }$

3、只有规格下限和规格中心的规格：

$\huge Cpl = \frac{ \bar{X} - LSL}{ 3\delta }$

Ca的计算

1、单规格

无需计算Ca

2、双规格

$\huge Ca = \frac{\bar{X} - C}{ T / 2}$

Ca的的评级及处理原则

等级	Ca值	处理原则
A	\|Ca\| ≤ 12.5%	作业员遵守作业标准操作并达到要求，需继续保持。
B	12.5% < \|Ca\| ≤ 25%	有必要将其改进为A级。
C	25% < \|Ca\| ≤ 50%	作业员可能看错规格或不按作业标准操作。须检讨规格及作业标准。
D	50% < \|Ca\|	应采取紧急措施全面检讨所有可能影响之因素，必要时得停止生产。

关于Cpk组内和整体计算的区别

cpk组内和整体计算的公式其实是一样的，区别就在于σ（西格玛）的计算方式有所不同。

当计算整体cpk时，σ=样本标准差（和上面介绍过的公式一样）。

当计算组内cpk时，σ的公式视情况而定，具体要根据建立的计量型控制图的类型而定分别为：

1.均值和极差图 $\large \delta =\frac{\bar{R}}{d2}$

2.均值和标准差图 $\large \delta = \frac{\bar{S}}{C4}$

具体的σ计算公式和常量值，如d2，C4的值，也可以查询常用计量值控制图系数表。

Cpk的评级及处理原则

等级	Cpk值	处理原则
A+	≥ 1.67	无缺点，考虑降低成本。
A	1.33 ≤ Cpk＜1.67	状态良好维持现状。
B	1.0 ≤ Cpk＜1.33	改进为A级。
C	0.67 ≤ Cpk＜1.0	制程不良较多，必须提升其能力。
D	Cpk＜0.67	制程能力太差，应考虑重新整改设计制程。