NIT Handler联机BIN信号问题

最近在做一个项目，需要和NIT Handler联机，其中在测试BIN信号时遇到了问题。

Handler与Tester联机如果采用TTL方式，信号交互比较简单：Handler---->发送SOT----->Tester; Tester---->发送EOT和BIN信号---->Tester;

其中BIN信号脉冲宽度要大于EOT脉冲宽度；

在联机时，首先要搞清楚Handler的接口板是否需要Tester提供电源，这点非常重要。项目中NIT Handler使用的JUNO的接口板，是需要Tester提供电源的。

NIT Handler软体中有一个测试BIN信号的界面，Tester如果向Handler发送BIN信号，界面上回显示相应的BIN Number。

在这个测试界面下测试BIN信号时，需要注意下面几点：

1. Handler在不发送的SOT的情况下，Tester发送的BIN和EOT信号的脉宽必须要大于100ms，NIT的软体才能识别这些BIN和EOT信号；

2. Handler在发送的SOT的情况下，Tester发送的BIN和EOT信号的脉宽可以小于10ms，NIT的软体就能识别这些BIN和EOT信号；

以上2点经验是基于几天调试才得出的结论，切记，切记！！