获取试样行为和标准应变测量
DIC可使整个试样表面上的局部应变以2D形式呈现出来。
什么是2D数字图像相关性?
2D数字图像相关性可显示整个可见试样表面的变形和应变。非接触式videoXtens引伸计记录试验期间的图像序列,逐个图像进行比较,并计算预定义平面视场中的位移,其中每个平面都包括指定数量的摄像机像素。该数据用于创建二维彩色应变图,使您能够一目了然地分析试样行为。
DIC - 数字图像相关性
为什么采用2D数字图像相关性(DIC)?
ZwickRoell的DIC使整个试样表面上的局部应变在2D中可见:
- 试样行为的彩色显示可指示不均匀的局部应变和其他特殊特征。
- 分析带缺口的复杂试样、部件或非均质材料。
- 验证您的实时应变测量结果。
- 试验装置误差(例如试样对中不准确)会快速显现出来。
2D和3D数字图像相关性之间的差异
很多应用都不需要3D DIC。如果测量表面平坦且在试验过程中没有扭曲、表面没有倾斜,也没有发生明显的横向试样移动,二维DIC分析就足够了。
3D DIC系统用于部件和圆棒试样等的三维测量,该系统需要特殊的硬件和软件。用于3D数字图像相关性的系统可以通过模块连接到材料试验机。
用于2D数字图像相关性的试样制备:非常简单或者干脆省略
可以将高对比度图案简单快速地喷涂在试样上。
实时应变测量不需要额外标记。虚拟标距标记通过软件放在现有图案上。
2D DIC分析过程示例
1.定义掩膜和网格
通过掩膜轻松定义要分析的图像区域。使用掩膜几何体工具箱(如圆形或多边形),还可以创建不规则掩膜或定义凹槽。您还可以选择使用可以指定不同分辨率的多个掩膜。
有三个非常有用的默认设置可用于定义平面和分辨率,也可以单独选择或调整设置。此外,还可以对与试验轴距离不等的不同平面进行测量,例如,偏置试样就是这种情况。这里,试样平面到试验轴的距离可以单独调整。
2.
这种相关性用于计算平面之间的位移和应变,它使用的是在掩膜中定义的参数。可以为相关性选择性地取消选择诸如试样断裂后记录的图像。
3.
您可以根据需要对分析过程选择各种分析工具和显示器。
在常见分析布局中,色图和图表清晰显示。可以在色图上拖动标距长度等分析工具来进行移动,同时在图表中显示当前值,没有时间延迟!您可以使用时间线来访问试验中的任何时间点,并将分析工具精确应用到重要区域。
4. 测试重新运行
通过软件中的测试重新运行选项,单个2D DIC分析工具的结果可与现场测试的测量值结合起来。
通过这些组合,也可以回顾性地重新计算材料特性值。
用于2D数字图像相关性(DIC)的各种分析工具
2D数字图像相关性(DIC)
可以使用鼠标移动分析工具,同时也会改变图形评估。
2D数字图像相关性(DIC)
切割线堆栈:选定的时间步长显示在图表中,从而显示切割线随时间的发展。
2D数字图像相关性(DIC)
还可以将虚拟应变片以不同的角度彼此叠放。
2D DIC中的切割线有什么特别之处?
有了切割线,应变进程沿试样显示或对角穿过试样显示。切割线随试样而变形。因此,它不是图像的固定部分,而是在整个测试过程中实际跟随试样行为的一条线。
切割线的一个特殊功能是切割线堆栈:所选的时间间隔可以显示在图表中,这样您便可以看到切割线随着时间的发展变化。
什么使得虚拟应变片如此高效?
虚拟应变片非常高效,因为它们为粘贴式应变片提供了具有成本效益的替代方案。这消除了应用应变片所需的时间。
虚拟应变片极其灵活:位置、尺寸和角度是分别确定的。也可以将其相互堆叠,这样,两个虚拟应变片就可以形成一个双轴应变片,其测量网格彼此垂直。
除了应变片位置的局部应变信息外,2D DIC还提供整个试样的全貌。
矢量图的优势是什么?
矢量图显示主应变方向。这使得应变条件在整个评估范围内均可见,这样您就能快速全面地了解试样情况。