医疗器械电磁兼容---简洁版（中部）

三，测试项目详细介绍

5. 静电放电

 用于评估设备承受静电干扰的能力的一项试验，对金属部件使用接触放电，对非金属部件使用空气放电，放电电压一般为4kV~8kV（根据标准不同，数值会有所不同）
方法标准：GB/T 17626.2-2018

测试环境如图

常见原因：裸露金属部件没接地，接地阻抗过大，电路板或屏幕等电气属性单元距离外壳过近，USB等接口无防ESD部件。

6.辐射抗扰

评估设备承受其周边的其他设备产生的辐射干扰的能力

方法标准：GB/T 17626.3-2016

测试环境：

常见原因：使用模拟器件时后端没有增加滤波元器件

7.电快速瞬变脉冲群

评估产品承受电网中由于感性负载等原因产生的脉冲群干扰的能力，根据标准不同施加的脉冲群的电压大小会不同，一般在0.5kV~3kV。

方法标准:GB/T 17626.4-2018

测试环境：

原因：通过电源线耦合到通信线 （整改注意事项：传输线的编织屏蔽结构由于缠绕屏蔽结构）；没有电源滤波器

8.浪涌

浪涌的来源分为外部(雷电原因)和内部(电气设备启停和故故障等)
外部(雷电原因):
1、直接雷击与外部(户外)电路,注入的大电流经过接地电阻或外部[电路阻抗而产生的电压;
2、间接雷击,即云层之间、云层中的雷击或击于附近物体的雷击,其会产生的电磁场,耦合
于建筑物内、外导体上产生感应电压和电流;
3、附近直接对地放电的雷击入地电流,当他耦合到电气装置接地系统的公共接地路径时产生
感应电压。
内部(电气设备启停和故障等):
1、主网电力系统的切换骚扰,例如电容器组的切换;
2、配电系统中较小的局部开关动作或负载变化;
3、与开关器件(如晶闸管、晶体管)相关联的谐振现象;
4、各种系统故障、例如电气装置对接地系统的短路和电弧故障。
浪涌可能造成电路烧坏,如电容击穿,电阻烧断等等。也有一定的积累性危害:造成半导体器
件性能的衰退、设备发故障和寿命的缩短。

浪涌时间间隔标准一般为1分钟。