《STM32单片机开发应用教程(HAL库版)—基于国信长天嵌入式竞赛实训平台（CT117E-M4）》第四章4.6 ADC数据采集实验

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《STM32单片机开发应用教程(HAL库版)—基于国信长天嵌入式竞赛实训平台（CT117E-M4）》第四章4.6 ADC数据采集实验，讲述ADC信号采样的STM32CubeMX配置和程序设计方法
官方例程下载：https://pan.baidu.com/s/1QC5BnDgY1m1me6-ihQ_OUQ?pwd=nqb1
提取码：nqb1

4.6 ADC数据采集实验

  ADC，Analog-to-Digital Converter的缩写，指模/数转换器或者模拟/数字转换器。是指将连续变量的模拟信号转换为离散的数字信号的器件。真实世界的模拟信号，例如温度、压力、声音或者图像等，需要转换成更容易储存、处理和发射的数字形式。模/数转换器可以实现这个功能，在各种不同的产品中都可以找到它的身影。与ADC相对应的是DAC，即将数字信号转化为模拟信号。

4.6.1. 实验任务

1. 参看官方例程（HAL_07_ADC），实现电压信号采集。
2. 拓展功能：双路ADC信号采集、LCD显示。

4.6.2. 硬件连接

开发板上有两个可调电阻R37, R38，分别连接到PB15，和PB12。

该开发板可实现2路模拟电压采集，通道：PB12 --> ADC1_IN11，PB15 --> ADC2_IN15。

4.6.3. 初始化配置（STM32CubeMX）

ADC采样处理有两种方式，一种是ADC直接采样CPU处理数据，另外一种是采用ADC采样加DMA传输。
这里以通道：PB12 --> ADC1_IN11配置为例，实现ADC直接采样。
 将IN11通道设置为single-ended
 ContinuousConvMode = DISABLE;
 DMAContinuousRequests = DISABLE;
 其他配置不变