电磁兼容（EMC）：静电放电（ESD）抗扰度试验深度解读（二）

最新推荐文章于 2024-11-19 14:28:41 发布
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分类专栏： 电磁兼容设计 文章标签： 单片机 嵌入式硬件 硬件工程 物联网 驱动开发
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目录

1. 测试方法不同

2. 放电电极不同

3. 模拟的场景不同

4. 试验电压不同

5. 解决方案不同

        做产品的硬件设计有没有必要了解静电抗扰度试验测试方法的一些要点？答案是非常有必要。以空气放电与接触放电方法为例，两种测试方法的干扰主要方式不同，并且对同一产品的不同地方进行测试，标准里都有明确的要求。而在产品的结构与硬件设计过程中，便可以结合静电测试方法针对性的给出最优方案。这也便是知己知彼，方能百战不贻。本文详细解读了两种测试方法的不同点，供大家参考。

除非在通用标准、产品标准或产品类标准中有其他规定，静电放电只施加在正常使用时人员可接触到的受试设备上的点和面。

1. 测试方法不同

首先就是测试方法不同，即测试手法不同。以下是两种方法的标准定义

空气放电方法 air discharge method

将试验发生器的充电电极

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电磁兼容（EMC）：静电放电(ESD）抗扰度试验深度解读（五）
linkking27的博客
04-22 2221
静电放电过程是一个复杂的过程，静电发生器只能特定的模拟实现中的某些场景，并不能完全等效并覆盖所有的场景。因此静电测试通过并不代表着能产品没有静电问题，在所有的场景中适用。静电放电有静电场的近场干扰和辐射场的远场干扰，0.6~1ns的上升时间，存在丰富的高频分量干扰。
电磁兼容（EMC）：静电放电(ESD）抗扰度试验深度解读（一）
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04-01 5140
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电磁兼容（EMC）：静电放电(ESD）抗扰度试验深度解读（七）
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04-25 2562
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静电放电抗扰度试验【电磁兼容EMC原理、设计与故障排除】
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10-26 3770
首先，确定受试设备的正常工作状态。然后，受试设备按要求放置，干扰信号施加于受试设备机壳、插座外壳等处，在每个试验点处进行直接放电不少于10次，每两次放电间隔1s。 观察在干扰信号作用下，受试设备的性能是否下降。若受试设备在技术规范内性能正常，则判为A级；若受试设备功能或性能出现暂时性降低或丧失，但能自行恢复，则判为B级；若受试设备因元器件或软件损坏、数据丢失等造成不可自行恢复须人工干预的功能降低或丧失，则判为C级；D级则属不合格。
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08-16 2560
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07-24 1355
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电磁兼容（EMC）：静电放电(ESD）抗扰度试验深度解读（六）
linkking27的博客
04-23 1481
静电放电干扰包括传导干扰和辐射干扰，在测试验证过程中需要明确分析出故障现象是以哪种干扰为主才能给出对应的解决方案。包括场建立中和感应过程中的时间导数造成了注入电流，这导致了放电尖端不同的电流脉冲波形和由场 造成的印制线里不同的感应电压。典型的印制线里感应电压宽度比本部分提及的静电放电初始电流窄得多，而且它们可能会现出振铃性。由于瞬态场依赖于特定静电放电发生器的设计（特别是在频率300MHz以上的场能量分量），我们需要预期在印制线、线上或IC内的感应电流会受到静电放电发生器具体设计的强烈影响。
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04-21 1350
操作者的身体可能被直接充电或静电感应，在后者的情况下，除非操作者是充分通地的，否则，即使导电的地毯也不会对其提供任何保护。作为一种可测量的量，一直将实际环境中得到的静电电压电平作为抗扰度要求，但是，现已证明，能量转移与其说是放电之前存在的静电电压的函数，不如说是放电电流的函数。假定在一个典型的充电过程中充电量为常数，那么高充电电压电平更可能出现在小电容量的情况，反之，大电容两端的高充电电压则需有一系列连续发生的过程，而它不太可能发生，这意味着用户环境中所获得的高充电 电压下电荷能量有变成稳定的趋向。
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上图是打火机的打火器的结构图，它的放电原理是：当给电压瓷片施加外力，瓷片被压缩，极化强度变小，释放部分吸附自由电荷，出现放电现象。当外力撤除，瓷片恢复原状，极化强度变大，吸附一些自由电荷，出现充电现象。 上图为我们用示波器抓的打火机的打火器的放电波形，从图中可以看出打火机的打火器的放电波形的峰值很高（5-6KV左右），比一般消费类的标准4KV要高很多，并且波形的上升沿时间（4us左右）也比静...
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12-21 2081
如今想来，其实可能就是这种形式导致的，摩擦产生一个静电场，从而影响到采样电路了，因为这个仪表采集的是弱，小信号，输出阻抗极大，所以后面采样电路也得用输入阻抗MΩ级别的运放处理，这样本来就容易造成杂散信号的输入，别说有个变化的静电场了。这三种情况都可能发生，主要看你的产品结构，设计，防护措施是怎么样决定的，而且很多时候，三种模式可能是相互参杂的，你可能改善了其中一项，其他也就好了。这个现实的例子只碰过过一次，就是之前大学实习的时候，在一家仪表公司，有一个仪表，在冬天，拿手一摩擦外壳就会导致，读数异常。
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