麒麟谈-Abraham test/阿伯拉翰测试 介绍

参考论文：Efficient Algorithms for Testing Semiconductor Random-Access Memories

作者：RAVINDRA NAIR, SATISH M. THATTE, AND JACOB A. ABRAHAM

问题来源：

阿伯拉罕测试是在国标标准GB14536-1.2008《家用和类似用途电控制器 第1部分：通用要求》中提及的一种可变储存器的测试方法，但使用百度Baidu、谷歌Google、必应Bing搜索，所出现信息寥寥，为了更好地解读此国标便有了这一篇介绍。

注：GB14536源于IEC60370。

阿伯拉翰测试是在附录H-（规范性附录）-电子控制器的要求中提到的（如下图所示）：

Efficient Algorithms for Testing Semiconductor Random-Access Memories这篇论文是1978年发表在IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS期刊的6月刊上的。

——IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS，ISSN：0018-9340，目前是中科院升级版2区、基础版3区期刊，也是中国计算机学会（CCF）推荐的A类国际学术期刊，尽管影响因子（IF）不高，但业内认可度很高，属于计算机方面的顶级期刊。