STM32 ADC精度提升方法

STM32 ADC精度提升方法

• Fang XS.
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• 如果有错误，希望被指出，学习技术的路难免会磕磕绊绊
• 量的积累引起质的变化

硬件方法

1. 优化布局布线，尽量减小其他干扰
2. 增加电源、Vref去耦电容
3. 使用低通滤波器，或加磁珠
4. 尽量减小电源的纹波，噪声； // STM32的ADC就是纯ADC，不带电源抑制设计
5. 尽可能让输入信号的电平范围等于Vref+和Vref-的电平范围

软件方法

1. 减小ADC输入时钟
2. 使用较大采样周期
3. 增加滤波算法，精度优先首选均值滤波
4. 在初始化时使用ST自带的校准
5. 在每次采集数据时使用Vrefint通道校准
6. 手动校准
7. 数字静默，采集时降CPU主频和其他可能影响ADC的时钟

使用Vrefint通道校准方法

以STM32F030C8T为例，规格书描述如下

这个值是在芯片出厂时，ST针对Vrefint通道进行校准的值，也就是用ADC采集VDDA=3.3V时得到的ADC值，存放在地址0x1FFF F7BA处，2字节大小；
结合这个校准值可以优化ADC转换计算方法：
通道x电压 = (通道xADC值 * 3.3 * VREFINT_CAL) / (通道VrefintADC值 * 4095);
每次ADC采集包含Vrefint通道，将每次采集都进行校准。
去除浮点数运算，DEMO代码如下：

#define VREFINT_CAL_ADDR ((uint16_t*) ((uint32_t) 0x1FFFF7BA))
// F0没有浮点运算单元，使用MV单位避免浮点运算
#define VREFINT_CAL_VOLTAGE_mV 3300 // Vrefint电压 (mV)
uint32_t CalibrateADC(uint32_t adc_value, uint32_t vrefint_adc) 
{ 
	uint32_t vrefint_cal = *VREFINT_CAL_ADDR; // 读取Vrefint校准值 
	uint32_t adc_chan_vol_mV = (adc_value * VREFINT_CAL_VOLTAGE_mV * vrefint_cal) / (vrefint_adc * 4095); 
	return adc_chan_vol_mV;
 }

ADC的常用测试评估方法

1. 平均值

• 代表ADC的测量中心值：反映ADC对这组固定电压的整体测量趋势。如果ADC理想且无偏差，平均值应接近电压的真实值。
• 系统误差（偏移误差）：若平均值与真实电压值存在差异，说明ADC可能存在零点偏移（如校准不准或硬件偏差）。

2. 标准差

• 测量噪声或随机误差：标准差衡量数据的离散程度，表示ADC的噪声水平或稳定性：
  • 标准差小：数据集中，ADC噪声低、重复性好。
  • 标准差大：数据分散，可能由电源噪声、信号干扰、ADC分辨率不足或电路设计问题导致。
• 用于计算信噪比（SNR）和有效位数（ENOB）。

3. 变异系数（CV）

• CV = 标准差 / 平均值 * 100%
• 通过将标准差归一化到平均值，提供相对波动性
• 评估ADC在不同输入电压下的稳定性（例如：1V和5V输入的噪声比例）。
• CV越小，说明ADC的测量值相对波动越小，稳定性越好。
• 若CV接近ADC的最小分辨率（如LSB的百分比），可能达到硬件极限。
• CV的倒数可近似反映SNR（如CV=1% => SNR≈100:1）。

注：

1. SAR型ADC相较于其他ADC，容易受干扰影响；
2. 看其他的文章，有的型号可能出现通道间串扰的问题，解决思路跟本文类似，还可以在2个通道采集之间插入一次接地通道的采集，原理是让电容有充分的时间进行充放电；

参考文档：
AN2834 如何在STM32微控制器中获得最佳ADC精度
AN3116 STM32的 ADC 模式及其应用
AN4073 使用 STM32F2xx 和 STM32F4xx 微控制器时如何提高 ADC测量精度
TI 计算ADC系统总误差
数字信号处理 科学家和工程师指南
TI ADC噪声分析与应用