低功耗设计：rush current

已于 2023-07-02 10:52:23 修改
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分类专栏： Redhawk+Lower Power Analysis 文章标签： 后端 学习
于 2023-02-23 11:20:29 首次发布
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本文探讨了rush current在power gating设计中的危害，包括导致短路电流和电源完整性问题。介绍了控制rush current的两种方法：single daisy chain和dual daisy chain，分别阐述了它们的工作原理和优缺点。通过调整开关单元的串联和并行策略，可以有效降低rush current，但可能延长唤醒时间。

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在power gating的设计中有一个rush current的概念，它的产生原因是switch cell上电过程相当于电容充电过程，会产生一个短期的大电流，称之为rush current。

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1.rush current的危害

1）rush current产生的压降可能会造成大的短路电流（也叫crowbar current），原理是recevier cell比driver cell先开启。

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2）过大的rush c

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