Xilinx Ultrascale 多通道高速TDC

SeruTek UltraTDC

– 基于Xilinx Ultrascale+ MPSoc的多通道高精度TDC

版本 1.1

2021年3月29日

简介

SeruTek UltraTDC 是上海瑟如电子近期推出的高精度、多通道TDC
IP核。该IP核适用于Xilinx Ultrascale/Ultrascale+ 架构的多款FPGA/SoC器件。为了便于客户能够快速评估该IP核的性能，掌握IP核的使用方法，我们基于Alinx黑金的ZU3EG开发板，制作了8通道TDC的演示套件ZU3D8。

ZU3D8在ZU3EG MPSoc上集成了8路时间戳单元、自校准模块、时间戳解析、时差计算模块以及用于测试的脉冲序列产生模块，使用开发板PL侧的200MHz差分时钟作为TDC部分的时钟源；利用40pin
2.54mm扩展接口上的IO接口作为测量脉冲输入接口。测量得到的时间戳或时差数据为标准的AXI Stream接口。

ZU3D8 每个通道的时间戳精度典型值为10ps，时差测量精度优于10 ps，每通道输入脉冲最小间隔14ns（最小可定制为6.25ns），相当于每个通道具有最大70MSPS的测量能力。SeRuTDC能够提供几乎无限的时间戳测量范围，默认配置下时间戳的表示范围约为上电初始化后的60年，如有需要还可进一步扩展。

演示程序中通过，TDC IP输出的测量数据缓存在PL侧的AXI Stream FIFO中，PS（Arm A53）从AXI Stream FIFO读取测量结果，再通过串口打印输出。TDC测量结果进行复杂的处理算法，用户可以在PS侧通过C/C++实现，也可以在PL测编写处理模块，实现低延迟的高速数据处理。当然，用户也可自行适配UDP或PCIE接口，实现测量数据的高速转发。

ZU3D8 TDC演示方案提供了开箱即用的ToF快速验证评估平台，只需少量的修改，就可应用于客户的定制环境，可极大地加快TDC系统设计，加速产品上市。ZU3D8的目标应用包括：多通道时间间隔计数、激光脉冲测距、质谱分析、医学图像、半导体自动化测试及精密时间同步等领域。

特点与优势

优势	特点
集成化的多通道测量	在ZU3EG/CG上可部署多达12-14通道 在ZU4EG/CG上可部署多达20-24通道 在ZU15EG上可部署多达64通道
高精度高速率时间测量	时间戳精度典型值：10ps； 时差精度典型值 ： 10ps; 同一通道最小脉冲间隔：14ns （标准版） 同一通道最小脉冲间隔：6.25ns （高速版） 不同通道间没有最小脉冲间隔限制。
强大的持续测量能力	默认配置下，每一路TDC年的时间戳范围高达约60年。 默认配置下，时间戳的持续读出速率高达33Msa/s（每秒3千3百万条，8通道总合），最高配置下可达250Msa/s。 配备PL侧的钟差计算模块，可在线实时计算stop脉冲与start脉冲之间的时间差。标准配置下，可达50Msa/s的持续输出速率。
片上校准	当TDC使用环境温度发生大幅变化，对延迟链的BIN Size进行校准有利于提高测量准确度。本演示方案利用片上集成的PS处理单元对TDC延迟链的BIN Size进行校准，无需借助外部校准信号、外部计算单元。
基于IP的设计 便于用户增加自定义逻辑	本演示方案包括了PS控制单元、8通道TDC、时间戳解析单元、时差计算单元。并预留了多个clock region，用户可利用这些资源实现用户自己的逻辑，如在PL侧实现高速的时差分析处理单元，或实现基于UDP或PCIE的高速转发模块。 除了输出时差数据，用户还可以选择输出时间戳数据，以实现更多应用。
灵活配置，按需定制	可定制TDC通道数、时间戳量程、数据吐出速率、最小脉冲间隔等参数。

应用领域

车载多线激光雷达

激光测距

医学成像（PET）

半导体自动化测试

单光子计数

质谱分析

高能物理

精密时间同步

时间戳格式

默认时间戳长度为12字节，最高位的一个字节为通道标识，用来表示产生该时间戳的通道编号。在ZU3D8中，通道编号范围是1-8。在时差计算模块中，通道1为作为start信号，通道2-8作为stop信号。

时间戳的低9个字节用来表示时间戳的值，数据类型为无符号整型。最小位LSB对应的单位是皮秒ps。

[95:88]	[87:72]	[71:0]
通道号	无定义	时间戳，无符号整型，LSB ps

时差数据格式

时差数据在这里指通道2-8测得的时间戳相对通道1测得的时间戳的差值。时差数据长度可配置为32bit
或64bit。其中8bit用来表示时差数据的通道号。时差计算模块默认通道1为start信号，并计算通道2-32相对于通道1的时间差。如果通道号为2，那表示该时差是通道2的时间戳-通道1时间戳得到的。

当时差数据长度为32bit时，剩余的24
bit数据用来表示实际的时间差，数据格式为有符号的整型，单位是ps。能够表示的时间差范围约为8.38微秒，用真空中的光速换算得到对应的测距范围大约为2500米。

[31:24]	[23:0]
通道号	时间差，有符号整型，LSB ps

当时差数据长度为64bit时，剩余的56bit数据用来表示实际的时间差，数据格式为有符号的整型，单位是ps。能够表示的时间差范围约为36000秒，用真空中的光速换算得到对应的测距范围大约为10亿公里。

[63:56]	[55:0]
通道号	时间差，有符号整型，LSB ps

演示方案与测试

ZU3D8 示例方案设计：

模块图设计主要的组成部分为PS，8通道TDC IP，Clock Wizard 以及AXI Stream FIFO。其中Clock Wizard将外部时钟信号转化为TDC
所需的100MHz时钟，用户可以根据所用开发板的时钟，更改clk
wiz的设置和输入时钟的管脚。TDC IP的8路脉冲输入引出为外部接口，用户可以根据实际情况修改管脚约束。TDC IP具有5路AXI-Lite配置总线，用来对内部各个模块进行配置，这些总线通过AXI Interconnection 连接到 PS。

示例中配备了3个AXI Stream FIFO, 用来将不同的测量数据读到PS中。FIFO0用来读取原始测量数据，原始测量数据的格式不开放，但提供SDK软件包，可以调用解码函数，在PS中完成对原始数据的解码，从而得到96bit的时间戳。同时，IP 内部的自校准模块也需要用到FIFO0，与PS配合，一起完成自校准bin size的功能。

FIFO1用来读取PL直接解码输出的96bit时间戳。相比较PS软件码的方式，PL解码延迟极低（约10个clock）,适合超高速应用。用户也可自行编写PL中的模块，替代FIFO1，对时间戳进行高速处理。

FIFO2读取时间差的输出结果，也就是2-8通道相对于通道1的时间戳的时间差。

测试数据

这里以示例工程为基础，对通道1、2进行简单的测试，以验证其高速测量能力，并验证其测试精度。

TDC IP的时钟为100MHz，是黑金开发板上的200MHz差分晶振，经过clock wiz
生成。测试信号使用Silicon labs的Si5341 时钟产生器开发板生成，生成信号的频率可以通过ClockBuilder
Pro在上位机进行配置。测试信号通过SMA转杜邦线接入开发板的2.54mm 扩展口。

由于输入脉冲与TDC时钟源为不同源信号，为了避免两个晶振的频率差、频率稳定度、频率漂移过大地影响测试精度，输入通道1、通道2的两路信号设置为同相信号（相位基本一致），从而使得通道2相对于通道1的时间差较小，减小晶振对通道间时差测量的影响。当测量时间时间较大时，TDC的时钟源必须是高稳时钟，否则将导致测量结果包含较大的抖动和误差。

70.321M测试

测试脉冲频率：70.321MHz

测试目的：验证高速测量能力，评估测量精度

通道1：

根据通道1测量得到的256个时间戳，计算两个时间戳的前后时间差，得到以下结果：

平均时间间隔：14220.55 ps， 对应的脉冲频率测量结果为：70.3207M

时间间隔测量的RMS为9.24 ps

通道2：

根据通道2测量得到的256个时间戳，计算两个时间戳的前后时间差，得到以下结果：

平均时间间隔：14220.51 ps， 对应的脉冲频率测量结果为：70.3209M

时间间隔测量的RMS为10.03 ps

通道2-通道1：

将通道2与通道1的时间差一一对应地相减，得到两通道间脉冲信号的时间差，如下图

时间差的RMS为：8.75ps。

ZU3D8资源利用