伦敦帝国学院提出局部特征提取新模式D2D：先描述后检测

跟大家分享一篇前天新出的非常有意思也有启发的论文 D2D: Keypoint Extraction with Describe to Detect Approach ，该文研究的内容是局部特征提取，在图像匹配、视觉定位、三维重建等领域均显示出了性能提升。

该文作者信息：

作者来自伦敦帝国学院和Scape Technologies公司。

提到局部特征提取，传统方法如SIFT等往往是先检测关键点，然后以关键点为中心计算特征描述，近年来出现了一些检测和描述联合计算的方法，如 SuperPoint、 D2-Net 、 R2D2等，如下图：

作者认为特征描述部分本就含有巨大信息量，本身就能代表着某个位置像素的显著程度，为什么不先计算得到大量的密集特征描述再从中筛选关键点呢？这话听起来很有道理，所以作者的核心思想是：先描述后检测，这可以大大简化局部特征提取的流程。