基于V&V活动的缺陷清除率模型

1.1缺陷清除率的定义

缺陷清除率=发现的ＢＵＧ数 / 应该发现的ＢＵＧ数

1.2定义指示器

请见我曾发过的《度量分析计划》中与缺陷清除率有关的信息说明。

1.3缺陷清除率的计算

设开发过程有m个阶段，n个检查点，对第j个检查点发现的阶段i引入的缺陷个数记作D_ij，则有如下缺陷清除矩阵：

 

缺陷数		缺陷注入
		阶段1	阶段2	阶段3	阶段4	……	阶段i	……	阶段m	总计
V & V 活动	检查1	D11								D*1
	检查2	D12	D22							D*2
	检查3	D13	D23	D33						D*3
	检查4	D14	D24	D34	D41					D*4
	……	……	……	……	……	……