什么是缺陷清除率、缺陷率和缺陷密度

     缺陷清除率(亦叫“缺陷排除率”),英文缩写DER(Defect Elimination Rate)。这个东西可以用作缺陷的预测和分析。 说到DRE就必须提到OFE(Opportunity For Error),即错误几率。

  缺陷密度(Defect Density)-缺陷在规模(如KLOC,PF)上的分布

      缺陷率(Defect Rate)-缺陷在时间上的分布。

  一般来讲,在过程稳定,人员技术稳定的情况下,发现缺陷多的地方还会有更多的缺陷,即漏掉的缺陷更多。

前段时间在搞CMMI4级的模型,用到了这些东东,搞了好长时间才明白其真正含义。DER分为两种:整体缺陷清除率和阶段缺陷清除率,阶段性的缺陷清除率能够反映整体缺陷清除率。

缺陷清除率=已发现的缺陷/潜在的缺陷,由于潜在的缺陷不容易确定,故近似=已发现的缺陷/(已发现的缺陷+以后发现的缺陷)

整体缺陷清除率很容易理解,举个例子说明:对于一个软件系统,如果发布前发现的缺陷为D1,发布后发现的缺陷为D2,则总缺陷数为D=D1+D2,则整体的缺陷清除率就为D1/D。

阶段性的缺陷清除率=本阶段发现的缺陷数/(本阶段入口存在的缺陷数+本阶段注入的缺陷数)。

举例1如下:

 

 
缺陷注入
 
 
需求
概要设计
详细设计
编码
单元测试
部件测试
系统测试
维护
总计
需求分析和评审
0
 
 
 
 
 
 
 
0
概要设计评审
49
681
 
 
 
 
 
 
730
详细设计评审
6
42
681
 
 
 
 
 
729
代码审查
12
28
114
941
 
 
 
 
1095
单元测试
21
43
43
223
2
 
 
 
332
部件测试
20
41
61
261
0
4
 
 
387
系统测试
6
8
24
72
0
0
1
 
111
维护
8
16
16
40
0
0
0
1
81
合计
122
859
939
1537
2
4
1
1
3465

           详细设计阶段缺陷清除率为:729/(122+859+939-70) =61.3%
n
举例2如下:
         一个项目的质量目标是0.2个缺陷/KLOC,产品规模估算为150KLOC,则交付给客户的产品的缺陷数应该不超过150*0.2=30个。假设交付阶段的缺陷清除率为90%,则交付之前遗留的缺陷应该不超过30/0.9=33个。
n
    根据组织级的缺陷清除率基线或项目级的缺陷清除率目标,可以得出每个阶段应该发现的缺陷数。如需求阶段的缺陷清除率为0.83,需求评审中发现了53个缺陷,则需求阶段应该发现的缺陷数=53/0.83=64个。也就是说,项目的后续阶段还应该发现至少11个需求的缺陷,而且发现的越早越好。
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