march c+算法

March c+算法
March C+算法是改进后的March C算法，在每个状态中增加了一次读操作，使它能够覆盖Stuck-open故障，在每步增加一次读操作可大
大提高对此故障的覆盖率。另外March C+算法同时可检测译码电路、MDR和MAR寄存器的SAF故障、固定故障、转换故障、地址译码故障、耦合故障以及部分NPSF故障，对于存储器RAM的故障覆盖率在95%以上，可见，它是一种很适合检测存储器的算法。
1、March C+算法的测试过程
March C+算法测试的第一个过程是：首先是初始化，对整个RAM单元写0，操作的地址顺序为升序或降序。
March C+算法测试的第二个过程是：以地址升序方式读单元，读出每个单元的值并检查是否为0，接着对该单元写1，在读出每个单元的值并检查是否为1。重复这样的操作过程直到所有的单元；以地址升序的方式读单元检查是否为1，接着对该单元写0，再读出每个单元的值并检查是否为0，重复这样的操作过程直到所有单元。
March C+算法测试的第三个过程是：以地址降序方式读单元，读出每个单元的值并检查是否为0，接着对该单元写1，在读出每个单元的值并检查是否为1，重复这样的操作过程直到所有的单元；以地址降序的方式读单元检查是否为1，接着对该单元写0，再读出每个单元的值并检查是否为0，重复这样的操作过程直到所有的单元。
March C+算法的第四个过程是：以地址降序或升序方式读单元，检查是否为0。

2、March C+算法如下：
（1）

For I = 1 to N;Do
	Write 0 at cell I
Continue

（2）

For I = 1 to N;Do
	Read cell to verify 0
	Write 1 at cell I
	Read cell to verify 1
Continue

（3）

For I = 1 to N;Do
	Read cell to verify 1
	Write 0 at cell I
	Read cell to verify 0
Continue

（4）

For I = N to 1;Do
	Read cell to verify 0
	Write 1 at cell I
	Read cell to verify 1
Continue

（5）

For I = N to 1;Do
	Read cell to verify 1
	Write 0 at cell I
	Read cell to verify 0
Continue

（6）

For I = N to 1;Do
	Read cell to verify 0
Continue