算法导论 思考题 4-5

这题实在没什么思路，网上找了一下答案。

基本思路是这样的：如果检测结果两块都是好的，则随意拿出来一块参与下一轮检测；一好一坏或者都是坏的，则一块都不拿；如果两两检测完剩余一块，也拿进来参与下一轮检测。

如果一开始就能够确定好的芯片多于坏的，则可以保证每轮检测结束好的芯片都多于坏的，一直到最后如果剩2块芯片，则两块肯定都是好的；剩3块芯片就再检测一次，如果结果都是好的，就随意取一片必定是好的；如果结果都是坏的，则剩下的那块肯定是好的。

来证明一下上面的结论：

设有x组好芯片，y组一好一坏的芯片，z组坏芯片，一共A块好的芯片，B块坏的芯片。可以看到A=2x+y，B=2z+y，当然可能还有一块多出来的，等会儿再讨论。

假设一开始就已知A>B，则2x+y>2z+y，可得x>z。某一轮检测结束剩下x个好芯片和z个坏芯片，还是有x>z，所以好芯片还是多于坏芯片。而且x+z<x+y+z，可得每次检测完都小于原规模的一半。

如果有一块多出来：

1、假设它是好的，则A=2x+y+1，由A>B得，2x+y+1>2z+y，得x+1/2>z，所以x+1>z，所以好芯片还是多于坏芯片。x+z+1<=x+y+z+1/2，可得每次检测完都小于原规模的一半。

2、假设它是坏的，则B=2z+y+1，由A>B得，2x+y>2z+y+1，得x>z+1/2，所以x>=z+1，好芯片还是多于坏芯片。x+z+1<=x+y+z+1/2，可得每次检测完都小于原规模的一半。

综上，可以证明这个方法是正确的，只要A>B，就一定能在最后一轮检测出一块好的芯片。

检测一块好的芯片递归式为：T(n)=T(n/2)+θ(n)，时间复杂度θ(n)，再用这块好的芯片去重新检测剩下的所有芯片，时间复杂度θ(n)。所以总共时间复杂度还是θ(n)。