本文详细描述了对LMX4644电源控制芯片进行的三温测试过程，包括低温(-55℃至125℃)下的性能验证，结果显示在指定条件下芯片表现优秀。同时提到不同产品系列的类似测试以及应用需求的多样性。
一、三温测试是基本、常见的测试方法，包含低温测试、常温测试、高温测试，测试工具为高低温测试箱，先把电源管理芯片置入测试电路板上，再使用高低温测试箱，开展不同温度的输入、输出、功率等测试。军工具测试温度范围为-55℃（低温）--125℃（高温）。
下图为一测试电路板：
二、引脚排列图如下：
三、测试结果如下：
1、常温
2、低温</
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