可控硅的两种触发方式:移相触发和过零触发

可控硅的两种触发方式:移相触发和过零触发 

2022-04-14 11:48

可控硅作为交流元器件的一种,有双向和单相可控硅,由于双向可控硅双向性,因此在正负电源均可以导通,因此经常被用于交流调节负载电路当中,双向可控硅一般的控制方式过零触发以及移相触发两种。

1、过零触发

过零触发顾名思义就是过零点时候触发可控硅,交流电因为有正负半周,在正半周到负半周或者由负半周到正半周过程时候都要经过零点,在一定的时间内改变导通周波数来改变可控硅的输出平均功率,实现调节负载功率效果,周波数是指交流电完成一次完整的变化,即一个正弦波形所经历的时间叫一个周波。这种类似于PWM信号调节电机输出,在一定时间内导通次数越多平均输出功率也就越大。如下图是周波过零触发所有信号输出情况,25%输出以及75%输出波形

可控硅调功器就是利用这种过零触发实现过零调功的一种电力输出装置,如下图

2、移相触发

移相触发就是改变每周波导通的起始点位置或结束位置,从而调节其输出功率或电压,实际上是通过控制可控硅的导通角大小来控制可控硅的导通量。例如下图是100%功率输出以及50%功率输出波形,50%输出电压波形是个有缺陷的正弦波

利用移相触发连续调压,制作移相调压器,如下图。

3、过零触发与移相触发异同

1)两者均能实现功率、电压等输出负载无级化调节;

2)过零触发原理是改变可控硅导通的周波数,输出波形仍然是正弦波,而移相触发是控制可控硅的导通角来控制可控硅的导通量,输出波形被斩了一截;

3)过零触发特点是易出现低频干扰,由于工作是断续的,因此很容易出现闪烁现象,不适用于像电动机等这类电流连续的场合;而移相触发则波动很小、输出电流、电压相对平滑,但是也存在一个问题,那就是由于电压发生畸变,容易产生电磁波干扰,在EMI方面有时候不容易过。返回搜狐,查看更多

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### 回答1: 过检测控制是一种控制可控硅(也称为二极管可控硅,或者简称为SCR)的方法。可控硅是一种半导体器件,常用于控制交流电源的开关。过检测控制可控硅的主要目的是确保在进行控制的转换时,电流为。这样可以避免电流突变造成设备损坏。 编写可控硅的C语言程序可以实现过检测控制。首先,我们需要连接一个点检测器到电源电路上,以检测交流电流的点。这个点检测器可以是一个传感器,能够感知电流的变化并发送信号给C语言程序。 在C语言程序中,我们可以使用定时器来定期地检查点检测器的信号。当检测到电流为时,通过控制可控硅触发器引脚,发送一个触发脉冲来控制可控硅的导通或者截止。 例如,我们可以将可控硅触发脉冲输出连接到一个脉宽调制器(PWM)的输入引脚上。我们可以通过C语言程序控制脉宽调制器的占空比,从而控制可控硅的导通时间。 通过这种方式,我们可以实现对可控硅的控制,确保电流在交流波形的点切换,并避免过大的电流突变。这对于一些需要精确控制电流的应用非常重要,比如电动机控制、照明系统以及电力电子设备。 要编写这样一个C语言程序,我们需要了解C语言的基本语法和电子电路的原理。我们还需要熟悉嵌入式系统的开发,以便将C语言程序烧录到适当的嵌入式硬件上并连接到电源电路中。 总之,过检测控制可控硅的C语言程序可以实现精确的电流控制,并确保在电流切换时避免损坏设备。这对于电子电路的设计和应用非常重要,可以提高设备的稳定性和可靠性。 ### 回答2: 过检测控制可控硅是一种常见的电力电子应用技术,用于控制交流电源对负载的供电时间,以实现电压和功率的调节。编写C语言程序来实现过检测控制可控硅,需要以下步骤: 首先,需要使用C语言编写的函数来进行过检测。过检测的目的是在交流电源的波形中找到电压为的时刻点。可以通过对电压波形进行采样,并与进行比较,从而确定交流电源的过点。可以使用C语言中的ADC(模拟-数值转换)进行采样,并使用比较运算符对采样值与进行比较。 接下来,需要使用C语言编写的函数来控制可控硅可控硅是一种电子开关器件,在特定的控制信号下可以实现电流的开关控制。通过C语言程序,可以生成控制信号,并将其传输给可控硅,以实现对电源的开关控制。可以使用C语言中的GPIO(通用输入输出)来控制可控硅。 在程序中,需要结合过检测和可控硅控制的函数,通过适当的算法和逻辑进行集成,以实现过检测控制可控硅的功能。程序应该包括对交流电源波形的持续监测,并在过点时发送控制信号给可控硅,以实现开关控制。 最后,程序可能需要添加其他功能,例如错误处理、保护机制等。这些功能可以通过C语言的异常处理和逻辑判断语句来实现。 总的来说,通过C语言编写过检测控制可控硅的程序,可以实现对交流电源的精确控制。这样的程序可应用于电力、工业自动化等领域,实现对电压和功率的调节和控制。 ### 回答3: 过检测控制可控硅是一种常见的电力电子设备控制技术,常用于交流电电路的开关控制。它可以实现对可控硅触发时机进行精确控制,从而实现电力系统的稳定运行。在C语言程序中,我们可以通过以下步骤来实现过检测控制可控硅: 1. 配置IO口:首先,我们需要对使用的IO口进行配置,以确保正确的输入输出控制。这可以通过编写相关的配置函数或使用特定的库函数来实现。 2. 过检测:过检测是通过检测交流电压波形的上升沿和下降沿来确定过点的位置。我们可以通过采样电压波形,使用定时器或外部中断等方式来检测过点,并记录过点的时间。 3. 触发控制:一旦过点被检测到,我们就可以根据系统需求来确定触发可控硅的时机。通常情况下,触发时机是根据相位角来计算的,可以根据过点的时间和相位差来计算出触发时刻。 4. 输出控制信号:最后,我们将计算得到的触发时刻输出到对应的IO口,通过改变IO口的电平状态来触发可控硅。这样,可控硅就可以根据所触发信号的时机进行开关控制。 总的来说,过检测控制可控硅的C语言程序主要包括IO口配置、过检测、触发控制和输出控制信号四个步骤。通过这些步骤的实现,我们可以有效地控制可控硅触发时机,实现对电力电子系统的稳定运行。

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