目的:检查STM32H743上电的过程中,IO的变化。
理解这个过程后,可以在设计过程中避免上电导致控制信号的错乱。
测试方法:使用2M的逻辑分析仪,测量IO的电平变化情况。测试结果如下:
注意事项:
1. 上电后,有100ms左右的高电平;
2.上电到软件初始化完毕,有2秒左右的时间的低电平。
目的:检查STM32H743上电的过程中,IO的变化。
理解这个过程后,可以在设计过程中避免上电导致控制信号的错乱。
测试方法:使用2M的逻辑分析仪,测量IO的电平变化情况。测试结果如下:
注意事项:
1. 上电后,有100ms左右的高电平;
2.上电到软件初始化完毕,有2秒左右的时间的低电平。