图像——坏点

引起坏点的原因

1. 工艺：（a）在sensor的制作过程中有灰尘等引起。

           （b）电子产品的寿命影响有限，导致会随着使用时间的增加而引起坏点。
   

2. noise ： （a）sensor gain 增大

             （b）温度增高等.
   

坏点的分类

时间变化

根据是否随着时间变化分：

静态坏点：不会随着时间、增益等改变，从sensor制造时因为工艺等产生的坏点。

动态坏点：因为增益、温度等引起的坏点，会随着时间变化而变化。

亮度

根据亮度分类：

hot pixel：比周围点亮很多的坏点。
dead pixel：比周围点暗很多的坏点。
weak pixel：没有提供一个正确的像素值，但并没有比周围点特别亮或者特别暗的像素。

集中状态

根据坏点是否集中来分：

单坏点、双坏点、多坏点
指的是单通道上的相邻坏点数量 ，3x3 邻域内出现的。
都在R、G、B一个方向上出现的坏点。

单坏点

双坏点

多坏点

坏点检测

方法

消除算法

评价指标：
不能损失原有的图像细节
去除所有的坏点
不能引起artifact
静态坏点消除
一般在sensor或则和模组产线上进行标定，并将坏点位置写在OTP（one time programmable） 里面。

也可用ISP静态坏点修正，通过SOC的I2C接口，从OTP读出来，写到SOC的memory里面，然后进行坏点矫正。

动态坏点判断方法
以G5为例


hot pixel：比 AVG +dif 大的点。
dead pixel：比 AVG -dif 小的点。

动态坏点修正：

静态坏点：中值滤波

根据边缘情况，选择均值滤波的像素点

Corner case

• noise的影响，高噪声（坏点检测矫正时根据ISO强度进行调试，根据噪声强度判断是否是坏点）
• 高亮的孤立点（红绿灯案例，LED点阵灯）
• 分辨率卡（密集的条纹不可被抹平）