TDA4VH 功能安全模块SDL3

BIST

BIST分为PBIST(Memory Built-In Self-Test)和LBIST(Logic Built-In Self-Test).
BIST是一种无需任何外部测试设备即可对集成电路(IC)中的存储区域和逻辑电路进行自检的功能。在嵌入式系统中，这些测试通常在系统启动或关闭期间使用，以检查SoC的健康状况。

PBIST

PBIST主要用于测试SoC中的内存区域，并提供永久性故障的检测。PBIST的主要用例是在启动时调用它，提供有关内存中任何卡在位的有价值的信息。
需要注意的一些事情:
	预计在启动时或每个驱动周期运行一次PBIST。
	PBIST必须从不同于被测试的核心运行。这是因为这种测试本质上是破坏性的。同样出于这个原因，在BIST测试之后，有必要重置模块。
	MCU BIST由硬件在启动时自动执行，作为HW POST的一部分。
	使用多核应用程序映像(R5F和C7X二进制)的原因是确保MCU R5F能够进行CLEC配置。(启动SDK 8.6.0时，MUC R5F以非安全模式启动)。

MCU PBIST

上电自检顺序如下图。

专用的eFuse位可以覆盖POST引脚，序列可以通过eFuse设置被另一个序列取代。

可以通过CTRLMMR_WKUP_DEVSTAT来查看上电之后的BIST OPT设置。

测试截图：

MCU对应操作寄存器LIBIST截图

int32_t SDL_LBIST_getMISR(SDL_lbistRegs *pLBISTRegs, uint32_t *pMISRValue)
{
    uint32_t regVal;
    uint32_t muxVal;
    int32_t status = SDL_PASS;

    if (pLBISTRegs == NULL)
    {
        status = SDL_EBADARGS;
    }
    else
    {
        /* Setting to 0 also selects compacted 32-bit version of full MISR */
        regVal  = ((uint32_t)SDL_LBIST_STAT_MISR_MUX_CTL_COMPACT_MISR);
        /* The MISR value is available at two locations :
           Choosing location SDL_LBIST_STAT_OUT_MUX_CTL_MISR_VALUE_1 */
        muxVal  = ((uint32_t)SDL_LBIST_STAT_OUT_MUX_CTL_MISR_VALUE_1);
        regVal |= (muxVal << SDL_LBIST_STAT_OUT_MUX_CTL_SHIFT);
        pLBISTRegs->LBIST_STAT = regVal;//then will be set 0 for LBIST_MISR
	    regVal = pLBISTRegs->LBIST_STAT;
        *pMISRValue  = pLBISTRegs->LBIST_MISR;//only read
    }
    return status;
}