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引言
半导体数字测试,特别是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件转换而成的数字测试程序,往往需要扩展到多个DUT测试位点。本文讨论了使用GtDio6x产品线和ATEasy®进行多位点测试的系统硬件和软件需求,以提供一个成本有效的解决方案。
数字设备设计注意事项
在设计多位点测试程序时,设计者可能无法完全明确成本和性能之间的取舍。在评估GX5296或GX5964系列动态数字仪器的性能和能力后,可以合理地推断单个GtDio6x板卡的大量通道应该能够支持多位点数字测试解决方案。虽然这种解决方案是可能的,但它并不能构建一个性能能满足每个DUT测试位点都使用数字资源或板卡的测试系统。