多位点数字测试系统的设计

目录

引言

数字设备设计注意事项

基于逐个位点多数字域的解决方案

基于单一数字域的解决方案

方案比较

总结

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引言

半导体数字测试，特别是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件转换而成的数字测试程序，往往需要扩展到多个DUT测试位点。本文讨论了使用GtDio6x产品线和ATEasy®进行多位点测试的系统硬件和软件需求，以提供一个成本有效的解决方案。

数字设备设计注意事项

在设计多位点测试程序时，设计者可能无法完全明确成本和性能之间的取舍。在评估GX5296或GX5964系列动态数字仪器的性能和能力后，可以合理地推断单个GtDio6x板卡的大量通道应该能够支持多位点数字测试解决方案。虽然这种解决方案是可能的，但它并不能构建一个性能能满足每个DUT测试位点都使用数字资源或板卡的测试系统。

基于逐个位点多数字域的解决方案

Marvin Test Solutions公司建议设计基于每个位点的多数字域的多位点测试系统，以便每个DUT测试位点使用自己的数字资源，如图1所示。该解决方案提供了最快的多位点测试性能，因为每个DUT测试位点可以独立运行。

 图1 -多域解决方案框图

使用这种配置方法，每个DUT测试位点都可以使用所有的数字资源。通过读取实时比较(RTC)错误状态寄存器，可以立即识别每个DUT测试位点的测试状态。此外，系统可以设计成每个<