设备电容老化危害大，出厂测试可别轻视它！

电容作为电路中不可或缺的元器件，在旁路、去耦、滤波、振荡、同步、调谐等常见电路中担任着重要作用，也常常在高速电路中扮演者重要角色，在手机，通讯，以及汽车，航空等多种领域，电子设备的电路板上也都可以看到电容的身影，电容的好坏直接影响整个设备的性能。而要保证电子设备的正常工作，并经得起环境和其他因素的考验，就必须对设备电路板的电子元器件进行可靠性（失效性）测试，电容老化测试则是电路可靠性测试里不可避免的重要环节。

什么是电容老化？

电容老化表现为电容随时间的减少，通常出现在EIA II类。在用作介电材料的所有铁电配方中都会发生这种自然且不可避免的现象，并且由于电介质的晶体结构随温度和时间的变化而发生。

 图1 电容老化特性

另外，由钛酸钡碱（II，III和IV类）制成的电容器是铁电的，因此往往容易老化，其中如果电容器保持电容的能力将在未加热和/或不带电状态下随时间降低。I类电容器不是铁电体，因此不会老化。

什么会引起电容老化？

通常电容受过压，过热以及电化学腐蚀都会导致电容的老化（电老化和热老化），因为不管是过压还是过热都会让电容里面电解粒子的流动超乎异常的活跃，从而形成逃逸极板的冲压，直接表现为电容充放电的时间会很短，甚至会被击穿，造成电解质的泄露而固化造成短路，电容失效。