flash调试笔记

皇甫春云

于 2022-07-26 19:10:42 发布

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分类专栏： FPGA 文章标签： fpga开发

本文链接：https://blog.csdn.net/qq_36481034/article/details/126001334

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版本号	介绍	开发时间
v1.0	将BE操作和PP操作进行了整合，并经过仿真分析和在线调试	2022.7.25
v1.1	将BE操作、PP操作和READ操作进行了整合，可以随意写入和读出任意字节	2022.7.26
v1.2	将BE操作、PP操作和READ操作进行了整合，但存在少写入字节的情况	2022.7.26

开发板在上电之后，会自动执行一次扇区擦除操作，在操作过程中，led0保持高亮状态，此刻处于扇区擦除状态，不能进行数据的写入，延时20s后，led0熄灭，flash芯片可以进行数据的写入操作；
上位机通过串口助手来逐字节发送数据，发送一次，存储一次数据，当前测试阶段可存储10个字节，通过更改例化参数，可以修改连续写入的数据量；
当存储满10个字节后，在延迟1s后，会自动进入读取flash数据的阶段，程序可实现连续读取任意数据，将读取的数据缓存到fifo中，供串口的发送模块使用，数据最终将在串口助手上进行显示；

扇区擦除的状态（擦除阶段结束，需要20s的时间）

在这里插入图片描述

数据写入状态（测试过程中，是一次连续写入10个字节，写入完成后，需要延迟1s的时间）
在这里插入图片描述

正常读取状态（连续读取10个字节）

在这里插入图片描述

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