写在前面:
个人留个笔记,如果有必要请联系qq(见csdn账号),我会删除
顺便一提,每学期的题目会有小改动,直接抄被发现直接挂科
顺顺便一提,今年有叫做了全部作业和设计结果挂科不服的,老师直接点出来抄就没反驳了,谁知道抄没呢,嘻嘻
任务要求:
设计一个能求出一个32bit字中两个相邻1之间最大间隙的电路。给出HDL设计及testbench描述,综合后的时序仿真结果及分析说明。
系统化分为状态机控制器和数据通路,信号的接口关系可参考下图(a)所示:
数据通路包括一个位计数器(k)、一个存储寄存器(tmp)、一个间隙寄存器(Gap)。
控制器产生的控制信号包括:
flush_tmp:清空tmp寄存器
incr_tmp: 增加tmp寄存器
store_tmp:用tmp加载Gap
incr_k: 增加k计数器
根据ASDM图,将过程设计为4个条件变化的状态,其中,s_0->s_1条件为输入位为1,s_1-》s_2的条件为输入为0,s_2->s_done条件为输入为1或31位(输入信息结束)。S_2-》s_1条件为输入为1且不为31。
图中部分状态转移的 1 应该改为0,15应该变为31.
代码和解释如下:
module Main(
input clk,
input rst,
input [0:31] Data,
output [0:4] gap
);
reg [0:4] temp,k,gap;
reg flush_tmp,store_tmp,incr_k,incr_tmp;
parameter s_0=0,s_1=1,s_2=2,s_done = 3;
reg [1:0] state,next_state;
wire CurrentD=Data[k];
always @(posedge clk,posedge rst)
if(rst)
state<=s_0;
else
state<=next_state;
always@(k or CurrentD or state)begin
//!!!
// 为了防止上次判断影响,每次进入判断先归零判断信号量为不变化
next_state = state;
incr_tmp = 0;
incr_k = 0;
store_tmp = 0;
flush_tmp = 0;
case(state)
// 首先判断起始的0位置再计数
s_0:
// 如果最后一位,直接返回,是0就0把没用了
if(k==31)
next_state = s_done;
else
// 如果当前的指向数据为1,进入计数阶段
if(CurrentD)begin
next_state = s_1;
incr_k = 1;
end
else begin
next_state = s_0;
incr_k = 1;
end
s_1:
if(k==31)
next_state = s_done;
else if(!CurrentD) begin
//刚进入这个阶段说明上一个是1
// 此时发现一个0,说明有空隙,开始计数并进入第三阶段--等待下一个1
next_state = s_2;
incr_tmp = 1;
incr_k = 1;
end
else begin
// 否则说明跟着一个0,之间没有空袭,将目前的0视作开始重新进入s_1
next_state = s_1;
incr_k = 1;
end
s_2:
if(k==31)
// 如果最后一位刚好给一堆s_2累计的1结尾了,且刚好大于最大gap,就把temp存入gap输出
if(CurrentD)
if(temp>gap)begin
store_tmp = 1;
next_state = s_done;
end
// 否则直接结尾
else begin
next_state = s_done;
end
// 如果最后一位没结尾
else begin
next_state = s_done;
end
else begin
// 如果不是最后一位
// 如果下一位是0,到此终止排序,比较内容
if(CurrentD)
if(gap<temp) begin
// 如果为 1,到此终结长度,存入gap,并返回s_1等待下一个1
store_tmp = 1;
next_state = s_1;
incr_k = 1;
flush_tmp = 1;
end
else begin
// 保持状态2,找另一个0
flush_tmp = 1;
incr_k = 1;
end
else begin
// 如果下一位是1,累加长度
incr_tmp = 1;
incr_k = 1;
///
end
end
s_done:
begin
// 结束后状态归零,等待下一次输入
next_state = s_0;
incr_k = 0;
end
default:
// 对于未知的状态,状态归零
next_state = s_0;
endcase
end
// 监测程序,每一个时钟往后一位 or 转入 gap
always@(posedge clk,posedge rst)
begin
if(rst)begin
k<=0;
temp<=0;
gap<=0;
end
else begin
if(flush_tmp)
temp <=0;
if(store_tmp)
gap<=temp;
if(incr_k)
k <=k+1;
if(incr_tmp)
temp <= temp + 1;
end
end
endmodule
得到综合电路如下:
仿真激励
文件如下:
module testbench();
// 输入:clk,rst和校验内容
reg clk,rst;
reg [0:31] data_in;
// 输出 结果
wire [0:4] gap;
//程序调用
Main u1(
.clk(clk),
.rst(rst),
.Data(data_in),
.gap(gap)
);
always #5 clk= ~clk;
initial begin
clk = 0;
rst = 1;
data_in = 0;
#100
rst = 0;
data_in = 32'b1000_0000_0000_0000_0100_0000_0000_1010;
#350
rst = 1;
#30
rst = 0;
data_in = 32'b1010_1000_0000_0001_0000_0000_0000_0001;
end
endmodule
得到时序仿真如下所示:
如图,rst复位结束后,随着第一个clk posedge信号变化进入s_1且temp累计计数,第二位为0,进入s_2累加temp,直到读取第17位,此位置为1,是所求的另一端,因为不是第32位,存入gap输出且复位temp,之后状态返回s_1,循环之前操作,最后(读取32位时)输出为正确结果(输出为16进制)