WCDMA相位不连续性问题

  相位不连续性简单来说就是EVM测试的补充。
  以下内容主要是做某个项目中遇到的相位不连续性Fail问题，其实刚入职不久对于这种BUG一点经验都没得谈，只有问一下身边的同事或者自己查一下高通的文档，一步一步的尝试，才有解决的方法。
  查了一下资料，相位不连续性即：上行内环功控每个时隙出现一次，而功率的变化会导致相邻时隙的相位存在差异。相位不连续性即指相邻的时隙间相位的变化。
  相位不连续性如果超过指标要求可能会引起频谱再生，产生过多的频谱杂散。
  下面是对于指标的要求和解释：

  WCDMA中引入slot的目的就是为了实现快速功率控制，而1个10ms的frame分成15个slots，也就是说每秒可以实现功率控制1500次。因此规范中定义Δθ ≤ 30的出现率以赫兹表示为1500HZ，也就是说正常情况应该每两个slot的phase delta应该小于30度。
  从下图可以仔细探究一下Fail的情况：

  从图中可以看出期望功率是4.94，测试功率在7dB左右出现大于30度的情况，对于这种情况，可以修改对应的NV项。
  1、从下图可以看到WB1、WB5、WB8分别对应四个NV，WB1为1795、1796、1797、1798，WB5为2071、2072、2073、2074、WB8为3722、3723、3724、3725，这