ILPC测试

在测 WCDMA 的内环功控时 ，最常 Fail 在 Step E 跟 Step F


因为 Step E 跟 Step F 要求的动态范围最大，至少 73 dB，且要求的精确度高
(Step Size = 1dB, Range = 0.5 dB ~ 1.5 dB)，因此最常 Fail

而 PA 在切换 Gain Mode 时 会有一段区间的 Power 是重迭的，
称为磁滞现象
该磁滞现象，是避免 PA 在 Power Mode 切换时，因不稳定而产生震荡。同时也可避免 Power 变化太过剧烈，以至于 Slot 跟 Slot 间的 Power 差异过大，造成内环功控 Fail

而在量内环功控时 每秒钟会调整功率 1500 次，以 Step E 跟 Step F 而言，因为动态范围最大，所以必定每个 Power Mode 都会用到。如果 Power Mode 切换时间太慢，以下图为例: