TPAMI 2024 | BimodalPS: 相移结构光扫描仪中的双峰多路径问题的原因和纠正方法

题目：[BimodalPS: Causes and Corrections for Bimodal Multi-Path in Phase-Shifting Structured Light Scanners]

BimodalPS: 相移结构光扫描仪中的双峰多路径问题的原因和纠正方法

作者：Y. Zhang; D. L. Lau

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摘要

结构光照明是一种主动3D扫描技术，基于投影和捕捉一组条纹图案，并测量这些图案在目标物体表面反射时的变形。设计上，每个相机像素只看到投影仪的一个像素；然而，在多路径情况下，相机像素会接收到来自多个投影仪位置的光。在双峰多路径的情况下，相机像素接收到来自两个位置的光，这发生在边缘切割像素的情况下，因此该像素同时看到前景和背景表面。本文提出了一个通用的数学模型，以解决相移或所谓的相位测量轮廓仪扫描仪中的双峰多路径问题，测量两条光路之间的建设性和破坏性干涉，并利用这种干涉，分离光路并进行两个解耦的深度测量。我们通过仿真和一些具有挑战性的实际场景验证了我们的算法，显著优于现有的最先进方法。

关键词

• 3D重建
• 深度成像
• 多路径纠正
• 结构光

I. 引言

结构光照明（SLI）是指一种3D扫描方法，使用投影仪投射一系列条纹光图案，使相机能够根据条