基于分析晶体成像

基于分析晶体成像

（analyzer-based imaging，ABI）

摘要
X射线相位衬度成像技术是目前成像领域的研究热点之一，与传统的成像技
术(吸收衬度)相比，它能够获得更高衬度的图像，能够更清晰地分辨出样品(尤其是对X射线弱吸收的轻元素样品)的微观结构细节，在医学、生物学和材料学等领域具有广泛的应用前景。因此，关于相位衬度成像的研究课题具有非常重要的研究价值。基于分析晶体成像是一种非常重要的相位衬度成像方法，通过在不同分析晶体位置采集的两幅或者更多的强度图像，再利用信息提取算法就可以得到样品的折射角、超小角散射和衰减信息图像。
关键词：相位衬度成像，基于分析晶体成像，本征摇摆曲线。

X 射线的折射与反射
X射线是电磁波，在不同介质的界面会产生折射现象，在宏观上，X 射线的 折射率 n 可用复数形式表示：

n = 1 −σ + i β

其中 δ 为位相因子，在固态介质中为 10-5 量级，而在空气中仅为 10-8量级虚部 β 为吸收因子，通常远小于 δ。由于 X 射线的频率一般高于各种电子束态的共 振频率，因此 n 的实部小于 1，表明 X 射线在物体内部的相速度 c/n大于真空光速 c [1]

相移会导致波阵面弯曲，在宏观上表现为 X 射线穿过物体后方向改变，即
在不同介质之间发生折射。式(2.2)已经给出了折射率 n 的形式，其中δ和 β分别对应于相位和吸收信息，δ 和 β 可表示为 [2] ：

其中ρ为电子密度，u0为线吸收系数，r0为经典电子半径，h 为普朗克常数，c为真空中的光速。
斯涅尔定律(Snell’s law)给出了入射角θ_0和出射角θ_1的关系，它们与介质的折射率相关：

其中n0为入射物体前，光所传播介质的折射率，n1为物体的折射率，X 射线入射物体发生折射的过程如图 2.11 所示，通常折射角 Δθ=(θ0 -θ1 )为微弧度量级，为了更容易表示，图中夸大了折射角。假设物体置于空气之中，则有n1 < n0 ，因此当入射角θ0小于临界角度θc时，会发生全反射。θc通常为毫弧度量级，因此只有在小角掠入射条件下才有可能发生全反射。

相移ψ和δ的关系为 [2] ：

其中波数 k = 2π/λ = 2πE/hc，可利用探测到的相移信息ψ作为投影值直接成像，其图像类似于吸收信息图像，但由于δ远大于β，因此相移图像比吸收图像更为灵敏，信噪比更好。在实际应用中，直接探测相移信息并不容易，通常只能通过晶体干涉(CI)方法探测。相较而言，折射角信息不仅更容易探测，还具有衬度增强的特性，折射角Δθ与相移的关系可表示为 [3] ：

Δθ对应于相移的一阶导数，因此对物体的边缘灵敏。ABI、GI 和 CBI 方法提取到的相位信息均为折射角信息。
此外利用基于传播成像(PBI)方法还可以探测到另一种相位信息，即相移的
二阶导数(∇^2 ψ)，该图像对物体的边界十分灵敏。图 2.13 给出了一圆柱样品的三种相位衬度图像，包括相移图像(ψ)、折射角图像(Δθ)和相移二阶导图像(∇^2 ψ)的示意图。

综上所述，相位衬度成像不仅有多种相位信息形式(相移、折射角和相移二阶导)，同时还能得到吸收和超小角散射信息，能以多衬度机制全面地给出物
体的信息。
基于分析晶体成像的基本原理
ABI方法的原理示意图如图所示，系统主要包括单色晶体(monochromator)、分析晶体(analyzer)和探测器。图中 C1 和 C2 为单色晶体，组成单色系统，通常晶体由硅(Si)或锗(Ge)完美晶体(perfect crystal)制成。

由于晶体对 X 射线的衍射，只有满足布拉格衍射定律(Bragg’s law): 2dsinθ =mλ 的射线才能被晶体反射，其中 d 为晶格平面的间距，θ 为入射 X 射线与晶面的夹角，λ 为 X 射线的波长，m 为衍射阶次。
来自同步辐射光源或X射线光机的平行束白光X射线，首先需要经过单色晶体的过滤被单色化准直化(但是对于扇形束而言，由于在单色晶体上不同位置的入射角度不同，过滤后的扇形束X射线波长在一定范围内变化)，单色X射线束穿过被测物体后携带了反映物体内部结构特征的折射、吸收和散射信息。当透射X射线束到达分析晶体(起到了角度滤波器的作用)时，如果入射方向与分析晶体晶向的夹角等于θ_B (晶体的Bragg角度)或者在θ_B附近很窄的角宽度(微弧度量级)内时，全部或者部分X射线光子经过分析晶体的衍射后会到达探测器平面，如果夹角与θ_B相差较大时，超出了分析晶体的接受角度范围，入射光子则基本上被分析晶体过滤掉，不能够被探测器记录。

分析晶体可以绕(x,y,z)坐标系的z轴(垂直于纸面的转动轴)在Bragg角附近进行左右摇摆，当分析晶体和单色晶体之间没有样品时，X射线光子的反射率与摇摆角度(即分析晶体与单色晶体的夹角θ_A，θ_A 就是转动的摇摆角度)的关系曲线称为本征摇摆曲线(rocking curve RC)，它是单色晶体和分析晶体关于X射线反射率的互相关。摇摆曲线在基于分析晶体成像方法中起着非常重要的作用，关于折射角、超小角散射和衰减信息的提取算法都是基于RC的曲线特性提出的。基于晶体衍射动力学，本征RC的计算表示为[4,5,6]:

其中，θ_A和θ_A^'分别表示分析晶体与单色晶体的夹角(即分析晶体绕z轴的摇摆角度)和X射线在分析晶体上的入射方向偏离Bragg角的的角度，R_M1 (θ)、R_M2 (θ)和R_A (θ)分别表示两个单色晶体和分析晶体的反射率函数。图2.15为
三种能量(59.31 keV, 30 keV和18 keV)X射线通过上述式子得到的Si(111)理论摇摆曲线(不考虑晶体对X射线的吸收)。
穿过样品的X射线束经过分析晶体的过滤到达探测器上的光子强度I可表示为：


当在分析晶体和单色晶体之间放置样品时，由于X射线束穿过样品后发生散射和折射偏离原入射方向，通过逆时针或顺时针转动分析晶体(转动角度在微弧度量级)可以采集到不同特征的强度图像，再利用信息提取算法就可获得样品中感兴趣区域的结构信息。
对于单块完美晶体，在不考虑晶体吸收的条件下，反射率 R 可表示为 [2] (以分析晶体的反射率R_A (x)为例)：
(3.1)式

变量 x 可表示为：

(3.2)式

其中 ζ=Δλ/λ 表示 X 射线的相对带宽，g 0 表示 X 射线穿过介质后的相移，g 为单层原子对 X 射线的反射率 [2] 。
由式(3.1)可以绘制出晶体反射率 R A (x)与 x 的关系曲线，即达尔文反射率曲线(Darwin reflectivity curve)，如图 3.2(a)所示。x 在-1 到1 之间的反射率为 100%，被称为全反射区间。在该区间以外，反射率以 1/(4x^2)形式迅速衰减。
X射线入射角度θ与x的变换关系为 [2] ：

(3.3)式

根据式(3.1)和(3.3)，可以建立反射率 R 与入射角度 θ 的关系，如图 3.2(b)所示。由于θ_B与晶体种类、衍射阶次和 X 射线能量有关，因此 R(θ)的宽度也它们相关。图 3.2(b)为采用 Si(333)和 59.31 keV 能量下的结果。

分析晶体与单色晶体平行放置,与入射的中心 X 射线夹角为布拉格角θ_B ,分析晶体绕z 轴在θ_B 附近旋转,旋转角度为θ_A ,定义顺时针旋转为正。未放置样品时,单色晶体和分析晶体对 X 射线的总反射率 R 与分析晶体的摇摆角度θ_A的关系曲线称为本征摇摆曲线(rocking curve ,RC),其中 R(θ)可由三块晶体的达尔文反射率曲线R_M1 (θ)、R_M2 (θ)和R_A (θ)的卷积计算得到。
基于分析晶体成像(ABI)，也称为衍射增强成像(diffraction-enhanced imaging ,DEI)，该方法利用放置在物体和探测器之间的分析晶体将折射角信息(相移梯度)转化为探测器可探测的射线强度变化。ABI方法对X射线源的时间相干性要求高，必须利用单色晶体将初始 X 射线转化为单色准直的射线以后才能成像，导致该方法射线利用率低，需要在纵向步进扫描物体才能得到完整的二维图像。尽管如此，X 射线的单色性和分析晶体的角度选择性使得该方法获得的图像不受射束硬化和散射的影响，因此图像质量高。同时，由于分析晶体的特性，该方法的信噪比(signal-noise ratio, SNR)优于其他折射角信息灵敏方法(GI和CBI)，尤其当 X 射线能量较高时。此外，与CI和PBI方法相比，ABI方法能提取超小角散射图像(也称为暗场图像)，可以给出物体的亚像素结构信息，具有特殊的应用价值。ABI方法在SR源上已得到大量的研究和应用，是应用最为广泛的方法之一。
到目前为止，已经发展出多种相位衬度成像技术的实现方法，如图所示，主要包括：晶体干涉(crystal interferometry, CI)、基于传播成像(propagation-based imaging, PBI)、基于分析晶体成像(analyzer-based imaging, ABI)、光栅干涉(grating interferometric, GI)和基于编码光阑成像(coded-aperture based imaging, CBI方法。

参考文献：
[1] Als-Nielsen J., Mcmorrow D. Elements of Modern X-ray Physics, Second Edition[M]. United Kingdom: John Wiley & Sons, 2011.
[2] Wilkins S.W., Nesterets Y.I., Gureyev T.E., et al. On the evolution and relative merits of hard X-ray phase-contrast imaging methods[J]. Philos. Trans. A Math. Phys. Eng. Sci., 2014,
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