Arm Debug Interface(ADIv5)解析（一）简介与实现【持续更新中】

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一、ADIv5 简介

ADI 是Arm 用来连接并使用内嵌 CoreSight 架构SoC调试功能的接口，目前最新版本是 ADIv6，我目前工作所用到的 ADIv5，所以先对 ADIv5进行学习。
ADIv5主要组件有两个：

• Access Port(AP):ADIv5.0定义了两个AP，即 JTAG-AP 和 MEM-AP
  1. JTAG-AP:访问JTAG设备
  2. MEM-AP: 访问 memory 或者带有 memory-mapped 接口的组件
• Debug Port(DP): ADIv5.0定义了两个DP，即 JTAG-DP 和 SW-DP

二、ADIv5的实现

ADI的实现方式，即实际模块，被称为 Debug Access Port (DAP)。DAP为外部调试器提供标准接口，如 JTAG/SW 来访问SoC中的调试资源。示意图如下图所示：

一个DAP需要下述组件来支持 JTAG 扫描链。

• 一个 Debug TAP State Machine (DBGTAPSM)，实际上就是 TAP，进行状态转移，对 IR 和 DRs 进行操作。
• 一个 Instruction register(IR)，选择和控制可用的扫描链
• 多个 Data register（DRs），在 DRs 中储存了可访问的调试相关数据，分为两大类
  1. DAP 组件的 DR
  2. 被 DAP 访问的调试组件或者JTAG设备中的 DR

物理层连接方式：

2.1 JTAG-DP

外部调试器可以通过符合 IEEE1149.1 JTAG标准的 DBGTAP 扫描链来访问 JTAG-DP ，读写相关寄存器数据。 JTAG-DP是基于 IEEE 1149.1 Standard for Test Access Port (TAP) and Boundary Scan Architecture规范的，但命名有所不同：

IR的宽度可定义为4bit或者8bit，其中必须要实现的标准 IR 指令值有：

主要有5个IR指令值，分别映射到对应的 DR。

（1） DPACC/APACC的目的是分别用来对 DP 和 AP寄存器进行读写操作。

• DPACC 扫描链采用

A[3:2], SELECT.DPBANKSEL , RnW

来决定所要访问的 DP寄存器的地址。DP寄存器有;

DPACC和APACC位宽都是 35bit 。

扫描链操作：
当 IR 选中 DPACC 或者 APACC时，会将 DPACC/APACC 寄存器放置在 DBGTDI 和 DBGTDO 扫描链上，如下图所示：

• Capture-DR 状态： 将上次操作结果抓取到扫描链上出，此操作结果带有 3 bit的应答数据 ACK。一共有两种，分为 OK/FAULT 和 WAIT 定义如下：