分治-芯片测试问题

最新推荐文章于 2024-05-30 17:06:44 发布

吾仄lo咚锵

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分类专栏：算法文章标签：算法分治算法 acm竞赛数据结构 c++

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芯片测试问题

芯片测试问题

_{本文应某人要求被迫经营}

问题描述：
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式：
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式：
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入：
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出：
1 3
其他要求：
构造大样本数据，测试运行结果和运行时间，也可在OJ平台上测试。分析你设计算法的时间复杂度。

生成数据

"蓝桥杯"练习系统有原题，~~然而贫穷限制了我。~~
在这里插入图片描述

根据题意生成随机测试数据

void getrand(int num) { //num为样本大小
	int rightcnt = num / 2 + 1; //保证一半以上好芯片
	int wrongcnt = num - rightcnt;
	srand((unsigned int)time(0)); //随机种子
	int r = rand() % wrongcnt;
	rightcnt += r; //随机好坏数量
	wrongcnt -= r;
	int ans[maxn] = { 0 };  //记录芯片好坏
	while (rightcnt--) {  //随机好芯片编号
		int idx = rand() % num + 1;
		if (ans[idx]) {
			rightcnt++;
			continue;
		}
		ans[idx] = 1;
	}
	for (int i = 1; i <= num; i++)
		if (ans[i])
			printf("%d ", i);
	FILE* fp = fopen("in.txt", "w+");
	if (!fp) {
		printf("无法打开文件\n");
		exit(0);
	}
	fprintf(fp, "%d\n", num);
	for (int i = 1; i <= num; i++) {
		if (ans[i])  //i是好的，输出ans
			for (int j = 1; j <= num; j++)
				fprintf(fp, "%d ", ans[j]);
		else  //i是坏的，随机
			for (int j = 1; j <= num; j++) 
				fprintf(fp, "%d ", rand() % 2);
		fprintf(fp, "\n");
	}
	fclose(fp);
}

暴力

用其他n-1片芯片对A芯片测试，至少有一半报“好”，则A是好芯片。时间复杂度是 $O(n^2)$ 。

void method1() { //O(n^2)
	int cnt[maxn] = { 0 };
	DWORD start_time = GetTickCount();
	for (int i = 1; i <= n; i++)
		for (int j = 1; j <= n; j++)
			if (m[i][j] && i != j)
				cnt[j]++;
	int half = n >> 1;
	FILE* f = fopen("out1.txt", "w+");
	if (!f) {
		printf("无法打开文件\n");
		exit(0);
	}
	for (int i = 1; i <= n; i++)
		if (cnt[i] >= half)
			fprintf(f,"%d ", i);
	DWORD end_time = GetTickCount();
	fprintf(f, "\n用时%dms", end_time - start_time);
	fclose(f);
}

分治

将芯片两两一组进行测试，若结果都是好芯片则任意保留一个，其他情况(一好一坏、两坏)则都舍弃这两个芯片。当数量是奇数时，对没有分组的那个芯片单独暴力处理，好则保留，坏则舍弃。

出口是数量<=3，因为好芯片比坏芯片多，所以数量是3的时候再拿出两个测，若结果一好一坏，则剩余那个是好芯片；否则两个芯片都是好的。数量1或2时都是好芯片。找到一片好芯片后便能知道所有芯片的好坏。
时间复杂度 $W(n)=W(\frac{n}2)+O(n)=O(n)$ 。

那么为什么剩下的就一定好芯片多于坏芯片呢？会不会坏芯片更多？
两两分组共三种情况

两好（设 $i$ 组）
一好一坏（设 $j$ 组）
两坏（设 $k$ 组）

因为题目保证输入好芯片多余坏芯片，初始时有 $2 i + j > 2 k + j$ ，即 $i > k$ 。又因为当互测结果都是好芯片时（两好或两坏）时保留一个，其余舍弃，所以一轮淘汰后，好芯片剩余至少 $i$ 个，坏芯片剩余至多 $k$ 个，而 $i > k$ ，即满足好芯片仍多余坏芯片。

void method2() { //O(n)
	list<int>l;  //删除操作多,用list
	list<int>::iterator it, ij;
	for (int i = 1; i <= n; i++)l.push_back(i);
	DWORD start_time = GetTickCount();
	while (l.size() > 3) {
		for (it = l.begin(); it != l.end(); ) {
			ij = it;
			it++;
			if (it == l.end()) { //奇数轮空
				int cnt = 0;
				for (it = l.begin(); it != l.end(); it++) 
					if (m[*it][*ij])
						cnt++;
				if (cnt < l.size() / 2) //超过一半坏，弃之
					l.erase(ij);
				break;
			}
			else { //偶数
				if (m[*it][*ij] && m[*ij][*it]) //两好则保留一个
					it=l.erase(it);
				else {  //否则全弃
					it = l.erase(it);
					it = l.erase(ij);
				}
			}
		}
	}
	int right;
	if (l.size() == 3) {
		it = l.begin();
		ij = it++;
		if (m[*it][*ij] && m[*ij][*it])right = *it;
		else right = *(++it);
	}
	else right = l.front();
	FILE* f = fopen("out2.txt", "w+");
	if (!f) {
		printf("无法打开文件\n");
		exit(0);
	}
	for (int i = 1; i <= n; i++)
		if (m[right][i])
			fprintf(f, "%d ", i);
	DWORD end_time = GetTickCount();
	fprintf(f, "\n用时%dms", end_time - start_time);
	fclose(f);
}

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源码

#include<bits/stdc++.h>
#include<Windows.h>
using namespace std;
const int maxn = 10004;
int n, m[maxn][maxn];
void getrand(int num) {
	int rightcnt = num / 2 + 1; //保证一半以上好芯片
	int wrongcnt = num - rightcnt;
	srand((unsigned int)time(0)); //随机种子
	int r = rand() % wrongcnt;
	rightcnt += r; //随机好坏数量
	wrongcnt -= r;
	int ans[maxn] = { 0 };
	while (rightcnt--) {
		int idx = rand() % num + 1;
		if (ans[idx]) {
			rightcnt++;
			continue;
		}
		ans[idx] = 1;
	}
	for (int i = 1; i <= num; i++)
		if (ans[i])
			printf("%d ", i);
	FILE* fp = fopen("in.txt", "w+");
	if (!fp) {
		printf("无法打开文件\n");
		exit(0);
	}
	fprintf(fp, "%d\n", num);
	for (int i = 1; i <= num; i++) {
		if (ans[i])  //i是好的，输出ans
			for (int j = 1; j <= num; j++)
				fprintf(fp, "%d ", ans[j]);
		else  //i是坏的，随机
			for (int j = 1; j <= num; j++) 
				fprintf(fp, "%d ", rand() % 2);
		fprintf(fp, "\n");
	}
	fclose(fp);
}
void method1() { //O(n^2)
	int cnt[maxn] = { 0 };
	DWORD start_time = GetTickCount();
	for (int i = 1; i <= n; i++)
		for (int j = 1; j <= n; j++)
			if (m[i][j] && i != j)
				cnt[j]++;
	int half = n >> 1;
	FILE* f = fopen("out1.txt", "w+");
	if (!f) {
		printf("无法打开文件\n");
		exit(0);
	}
	for (int i = 1; i <= n; i++)
		if (cnt[i] >= half)
			fprintf(f,"%d ", i);
	DWORD end_time = GetTickCount();
	fprintf(f, "\n用时%dms", end_time - start_time);
	fclose(f);
}
void method2() { //O(n)
	list<int>l;
	list<int>::iterator it, ij;
	for (int i = 1; i <= n; i++)l.push_back(i);
	DWORD start_time = GetTickCount();
	while (l.size() > 3) {
		for (it = l.begin(); it != l.end(); ) {
			ij = it;
			it++;
			if (it == l.end()) { //奇数轮空
				int cnt = 0;
				for (it = l.begin(); it != l.end(); it++) 
					if (m[*it][*ij])
						cnt++;
				if (cnt < l.size() / 2) //超过一半坏，弃之
					l.erase(ij);
				break;
			}
			else { //偶数
				if (m[*it][*ij] && m[*ij][*it]) //两好则保留一个
					it=l.erase(it);
				else {  //否则全弃
					it = l.erase(it);
					it = l.erase(ij);
				}
			}
		}
	}
	int right;
	if (l.size() == 3) {
		it = l.begin();
		ij = it++;
		if (m[*it][*ij] && m[*ij][*it])right = *it;
		else right = *(++it);
	}
	else right = l.front();
	FILE* f = fopen("out2.txt", "w+");
	if (!f) {
		printf("无法打开文件\n");
		exit(0);
	}
	for (int i = 1; i <= n; i++)
		if (m[right][i])
			fprintf(f, "%d ", i);
	DWORD end_time = GetTickCount();
	fprintf(f, "\n用时%dms", end_time - start_time);
	fclose(f);
}
int main() {
	getrand(1000);
	FILE* fp = fopen("in.txt", "r");
	if (!fp) {
		printf("无法打开文件\n");
		exit(0);
	}
	fscanf(fp, "%d", &n);
	for (int i = 1; i <= n; i++)
		for (int j = 1; j <= n; j++)
			fscanf(fp, "%d", &m[i][j]);
	fclose(fp);
	method1();
	method2();
	return 0;
}

在这里插入图片描述

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分治-芯片测试问题

芯片测试问题问题描述：有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。输入格式：输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j
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