基础训练—芯片测试 -C （有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片）

问题描述

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为nn的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
例子
输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
输出

1 3

思路：因为，题目中说到好芯片的数量比坏芯片的数量多，因此只要判断每一个芯片的合格次数大于n/2即可。

代码呈上：

#include <stdio.h>
int n;
int a[20][20];
int num[20]={0};
int main ()
{
	int i,j;
	scanf("%d",&n);
	for(i=1;i<=n;i++)
		for(j=1;j<=n;j++)
		{
			scanf("%d",&a[i][j]);
            if(a[i][j]==1)
            {
            	num[j]++;   //记录每一列的1 的个数 ，用于判断是否大于n/2 
			}
		}
		
	int flag=0;//设置输出格式 
	for(i=1;i<=n;i++)
	{
		if(num[i]>n/2)
		{
			if(flag==0)
			{
				printf("%d",i);
				flag=1;
			}
			else
				printf(" %d",i);
		}
	}
	return 0;
}

运行示例