第七届SPIE多谱图像处理与模式识别国际学术会议征文通知

第七届SPIE多谱图像处理与模式识别国际学术会议征文通知

2011年11月4日~11月6日   中国·桂林

多谱图像处理与模式识别国际学术会议是国际光学工程学会（SPIE）与中国联合组织的国际学术会议，已成功召开了六届（1998.武汉；2001.武汉；2003.北京；2005.武汉；2007.武汉；2009.宜昌），成为SPIE在我国举办的规模最大的国际会议。继第六届会议在宜昌取得圆满成功之后，第七届SPIE多谱图像处理与模式识别国际学术会议计划于2011年11月在桂林举行。大会将为从事多谱图像处理与模式识别领域研究的专家、教授、工程技术人员和研究生提供一个相互学习和交流的国际性论坛。为了提高会议的学术水平，会议将特邀国内外知名专家就本领域前沿作专题报告。大会工作语言为英语，会议论文集将由美国SPIE正式出版，并将被EI和ISTP检索，欢迎大家积极投稿，参加会议。

征文范围（包括但不局限于）

1.     多谱图像获取

§   红外成像

§   微波成像

§   雷达和激光雷达成像

§   超声波成像

§   多谱与高光谱成像