IEEE1500

最新推荐文章于 2025-03-03 14:58:38 发布

seahqsky

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分类专栏： DFT 文章标签：前端

本文链接：https://blog.csdn.net/seahqsky/article/details/111538365

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本文介绍了在IC中使用IEEE1500测试模式控制的流程，强调了一个IC只有一个主要的TAP。默认情况下，仅实现基本的TAP控制器，不支持额外的边界扫描特性。为了利用这些特性，文章提出了一个两步流程：首先插入具有所需特性的边界扫描逻辑，然后插入服务器逻辑和芯片级IEEE 1500控制器，配置额外的IEEE 1500测试模式控制指令。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

IEEE1500

Agenda

在这里插入图片描述
For a IC, only can have one main TAP.(TAP = IEEE Std 1149.1 Test Access Port)

#Block level 1500 script
set_dft_configuration -scan_compression enable -wrapper enable -mode_decoding_style one_hot –ieee_1500 enable
set_dft_signal -type WSI -port WSI -test_mode all –view spec
set_dft_signal -type WSO -port WSO -test_mode all –view spec
set_dft_signal -type WRCK -port WRCK -test_mode all –view spec
set_dft_signal -type CaptureWR -port CaptureWR -test_mode all –view spec
set_dft_signal -type ShiftWR -port ShiftWR -test_mode all –view spec
set_dft_signal -type UpdateWR -port UpdateWR -test_mode all –view spec
set_dft_signal -type SelectWIR -port SelectWIR -test_mode all –view spec
set_dft_signal -type WRSTN -port WRSTN -test_mode all –view spec -active_state 0
define_test_mode wrp