IC TEST
文章平均质量分 78
GalaxyChip
这个作者很懒,什么都没留下…
展开
-
两个不同notch方向的wafermap合并技术探讨
1.实际芯片调试过程中,可能存在在两个工序有不同wafer notch的wafermap文件,需要对其进行合并。手动合并会存在各种错误风险,因此需要找到可批量操作实现方案。本文主要讨论一个基于“GalaxyWaferMapEditSetup”软件的两个notch wafer map合并方法。待续。。。...原创 2020-05-07 20:59:55 · 3012 阅读 · 1 评论 -
基于TestDataAnalysis工具的TXT LOG userdefine字段使用说明
±---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------+Pass/Fail Test Test DUT # Pin ...原创 2020-05-01 18:43:52 · 398 阅读 · 0 评论 -
用TestDataAnalysis工具实现对TXT datalog的分析
TestDataAnalysisV1.0config file可以提取用户自定义字段datalog格式原创 2020-04-14 22:15:21 · 623 阅读 · 1 评论 -
GalaxyWaferMapEdit使用说明
添加链接描述GalaxyWaferMapEdit工具使用说明原创 2020-04-12 17:07:41 · 4151 阅读 · 2 评论