IC TEST DATA
GalaxyChip
这个作者很懒,什么都没留下…
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基于TestDataAnalysis工具的CSVToMapping使用说明
新测试程序调试或新产品导入初期,对测试datalog进行分析,直接查看CSV//excel log难以发觉各个芯片参数在整平wafer上的分布情况。此时将其转换成mapping格式则能直观看出来wafer边缘等的分布规律,或者by site等。待续...原创 2020-05-07 22:36:22 · 434 阅读 · 0 评论 -
基于TestDataAnalysis工具的N个模拟量测试参数分布对比分析
选择funcpara ana选项卡来对比的N个文件可以是N个lot或者N片wafer,或者同一个lot/片 芯片log的不同条件下测试结果对比。待续原创 2020-05-07 22:19:58 · 256 阅读 · 0 评论 -
TestDataAnalysis应用场景说明2
FileItem,输出的各类型数据中,单个CSV文件的最大列数,举例:A产品测试datalog中,总共有3000列数据,设置FileItem值为1000,则会同时输出3000/1000=3个CSV文件,命名规则为……Parametric0.CSV,……Parametric1.CSV,……Parametric2.CSV,funcional信息同理;FileType:将要处理的STDF LOG文件...原创 2020-05-01 18:58:00 · 277 阅读 · 0 评论 -
基于TestDataAnalysis工具的TXT LOG userdefine字段使用说明
±---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------+Pass/Fail Test Test DUT # Pin ...原创 2020-05-01 18:43:52 · 399 阅读 · 0 评论