根据IC测试datalog生成TSKMap方法讨论

实际上在wafer测试过程中经常会出现waferMap丢失或者被覆盖后期望根据测试datalog来恢复或者按照要求来生成指定TSKMap的需求。本文主要讨论其中的一个实现方案。
1.期望的tskmap文件模板;
2.datalog文件,整理成CSV或者EXCEL格式
3.TestDataanalysis软件。参考“”添加链接描述

待续

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回答: 自动化生成测试用例的方法有多种,其中一种常用的方法是基于正交表法。正交表法是一种测试用例设计方法,它可以快速、准确、高覆盖率地生成测试用例。该方法通过设计一个正交表格,将待测试的因素和它们的取值组合起来,从而生成一组具有较高覆盖率的测试用例。正交表法的优势包括设计测试用例效率高、清晰简洁、节省人力资源、测试用例覆盖率可调节、测试用例准确等。通过使用正交表法,结合编写Python脚本进行实现,可以实现自动化生成测试用例的目的。\[1\]\[3\]另外,还有其他的测试用例自动生成方法,如等价类划分法、边界值法等,根据具体的需求和场景选择合适的方法进行测试用例的自动生成。\[1\] #### 引用[.reference_title] - *1* *3* [Python实现自动生成测试用例](https://blog.csdn.net/zhaodengdeng1984/article/details/126430130)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v91^control_2,239^v3^insert_chatgpt"}} ] [.reference_item] - *2* [如何自动生成测试用例方案](https://blog.csdn.net/qq_45533841/article/details/109097974)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v91^control_2,239^v3^insert_chatgpt"}} ] [.reference_item] [ .reference_list ]

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