基于TC377开发低端电流采样调试时问题汇总

问题1

问题描述

  开环控制GTM占空比时，即使用调试器手动标定占空比数值。理论现象为示波器显示的PWM波形随着标定数值的改变而改变；实际现象为示波器上PWM波形未发生变化，但当调试器暂停运行时，PWM波形变为标定占空比。

问题解决

  经过对代码排查，发现问题出现的原因为将GTM模块的寄存器TOMi_TGC0_GLB_CTRL中的位UPEN_CTRLx设置为 1u:TOM channel x disable update of register CM0, CM1 and CLK_SRC from SR0, SR1 and CLK_SRC_SR；后将位值改为 2u：enable update 问题解决。

问题2

问题描述

  对电流采样，ADC采样值正常，但是对于电压的采样值，ADC采样值偏高十几甚至七十几个AD。

问题解决

  经过排查，当将ADC模块寄存器GxANCFG中的位DPCAL的值改为 0u：Automatic post-calibration after each conversion of group x 时问题解决