DAC 性能测试
背景
MCU 上的 I2S 引脚并未引出,但是需要测试性能
测试流程
测试数据通路
- AP sine wave -> USB 声卡 -> MCU SRAM -> MCU I2S SDATAO -> CODEC I2S SDATAI -> DAC -> AP
loopback 测试
测试配置
- 输出通道选择模拟差分通道
- 输入通道选择 loopback
- 滤波一般 high pass 为 20Hz, low pass 为 20kHz,A-wt
- 生成 Frequency 为 1kHz 的正弦波
测试波形
测试 FFT
声卡测试
测试配置
- 输出通道选择 ASIO 下的 MCU USB 枚举出来的声卡设备
- 输入通道选择模拟差分通道
- 滤波一般 high pass 为 20Hz, low pass 为 20kHz,A-wt
- 生成 Frequency 为 1kHz 的正弦波
测试波形
测试 FFT
关注指标
- Scope
- FFT
- RMS Level
- THD+N
- SNR
- Frequency
- Frequenc sweep
- Signal Analyzer
注意事项
- 模拟量会出现衰减,所以 DAC->AP 是模拟量,数字量通过声卡传递给 CODEC->DAC
- 注意区分差分(Balanced)还是单端(Unbalanced)
- 注意输出信号的 dB