音频——DAC 性能测试

DAC 性能测试

背景

MCU 上的 I2S 引脚并未引出,但是需要测试性能

测试流程

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测试数据通路

  • AP sine wave -> USB 声卡 -> MCU SRAM -> MCU I2S SDATAO -> CODEC I2S SDATAI -> DAC -> AP

loopback 测试

测试配置

  • 输出通道选择模拟差分通道
  • 输入通道选择 loopback
  • 滤波一般 high pass 为 20Hz, low pass 为 20kHz,A-wt
  • 生成 Frequency 为 1kHz 的正弦波

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测试波形

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测试 FFT

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声卡测试

测试配置

  • 输出通道选择 ASIO 下的 MCU USB 枚举出来的声卡设备
  • 输入通道选择模拟差分通道
  • 滤波一般 high pass 为 20Hz, low pass 为 20kHz,A-wt
  • 生成 Frequency 为 1kHz 的正弦波
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测试波形

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测试 FFT

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关注指标

  • Scope
  • FFT
  • RMS Level
  • THD+N
  • SNR
  • Frequency
  • Frequenc sweep
  • Signal Analyzer

注意事项

  • 模拟量会出现衰减,所以 DAC->AP 是模拟量,数字量通过声卡传递给 CODEC->DAC
  • 注意区分差分(Balanced)还是单端(Unbalanced)
  • 注意输出信号的 dB
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