Dozen hundreds Sensors

前言

一般情况下，你大概只需要同时测试几颗sensor就可以了，很少会采用阵列的方式（有人用a dozen的IMU一起工作来提高性能），因此遇到这个问题的时候，多半来源于测试。

传统的测试机台，讲究的是快，一般也会有多SITE，但是不会太多，比如常见的144 site，只要测试的时间足够短，那么一台机器一个月也可以有很大的吞吐量。

但是这种办法在某些情况下会遇到问题，特别是那么缓变信号。

基于I2C的系统扩展

如前所示，你如果想测试Dozen hundreds Sensors，那么大概率其I2C地址也是类似的，一般顶多会给你留1~2个地址片选，也就是说，你即使用TCA9548A这样的经典I2C扩展芯片，你一个板子上也没法测试很多，而且像TCA9548A，有3个片选，也就是最多8片并联。。。。如果不想办法，大概率也就128*2这样的测试数量了，如果还要更多？

最简单的一种，大约还是利用TCA9548A级联使用，由于TCA9548A有3个地址片选，因此TOP层的TCA9548A不能与下一层的TCA9548A的地址相同，以免冲突。

如果上层的PCA9548A换成LTC4314或者直接用MCU来处理，单一的节点还可以更多一些。

USB口可以有很多，不同的USB口可以看作是类似的并行工作。

这样就可以实现Dozen hundreds Sensors 同时测试了。

并行

对于慢速的sensor来讲，一般不会工作在连续测量模式，像温湿度这样的sensor，大部分写的驱动都是单次测量模式，你发一次命令，sensor测量一次，然后就休眠了，只留下接口低功耗的等着读数据。

有些sensor在ASIC设置的ODR较低时（内部的OSR较高），可能需要等100多ms。

这种情况，如果你只测试一两颗芯片，其实怎么读都不会觉得慢，但是如果你需要Dozen hundreds Sensors，就需要考虑另外的方式了。

先给所有的sensor发送测量命令，然后再一个个去读，这样中间的等待时间就只有一个单位了。

这样做的好处，其实还有另外一个，就是当你的环境不是那么稳定的时候，Sensor测量数据的时间也是基于在并行的，可以有一个比较好的评估。

[ 完】