Xilinx ZYNQ 7000学习笔记五(Xilinx SDK 烧写镜像文件)

本文详细介绍了Xilinx ZYNQ 7000系列SoC的JTAG特性,包括边界扫描、调试访问通道、ARM DAP控制器等。同时,探讨了FSBL代码中的JTAG模式,如何借助JTAG直接访问内存并跳过BootRom加载应用程序。此外,还解释了如何通过Xilinx SDK烧写镜像文件到flash,以及在不同启动模式下的操作注意事项。
摘要由CSDN通过智能技术生成

概述

前面几篇讲了ZYNQ7000的启动过程,包括BootRom和FSBL的代码逻辑,其中关于FSBL代码对启动模式为JTAG被动启动没有进行分析,本篇将通过将JTAG的功能和通过Xilinx SDK烧写镜像文件到flash来顺道把FSBL中的JTAG代码部分给讲解下。

1.JTAG

ZYNQ7000系列SOC通过标准的JTAG(IEEE1149.1)调试接口提供调试访问通道。在内部,SOC期间实现了PS端通过DAP(debug access port )控制器实现访问ARM,通过标准的TAP(test access port)控制器访问PL端。ARM DAP作为Arm CoreSight调试架构的一部分,允许用户利用行业标准的第三方调试工具进行调试。

下图展示了JTAG 的系统框图,在BootROM完成后将控制权移交给用户软件(启动FSBL),JTAG链就会自动启用,假设引导过程为非安全模式,这允许从用户软件入口点进行调试。
在这里插入图片描述

1.1 JTAG主要特性:

JTAG的主要特性有:

1) JTAG 1149.1 支持边界扫描
2) JTAG 1149.1 遵从TAP控制器:一个JTAG TAP控制器和一个ARM DAP控制器
3)AMD TAP控制器针对ZYNQ7000系列 唯一的IDCODE
4)支持IEEE1532可编程系统可配置 (in-system-configurable (ISC))设备

包括:
eFuse programming
BBRAM programming
XADC access

5)flash 编程
6)AMD逻辑分析仪调试支持
7)使用ARM DAP控制器访问Arm 片上调试和跟踪(CoreSight) 架构
8)通过DAP-AP端口间接访问PS地址空间
9)使用PS中的MIO或PL中的EMIO进行外部跟踪捕获

我们在这里知道通过JTAG可以直接操作flash和内存即可。
备注:eFUSE的全名是"Electrically Programmable Read-Only Memory Fuse",它是一种电可编程只读存储器。eFU

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