multisim利用参数扫描分析研究电阻变化对静态工作点的影响(以阻容耦合静态工作点稳定电路为例)

本文通过Multisim的参数扫描分析,探讨了偏置电阻和集电极电阻变化对阻容耦合电路静态工作点的影响。随着偏置电阻增大,集电极电压升高,发射极电压降低,导致ICQ减小,电压放大倍数减少,输入电阻增加。而集电极电阻增大时,发射极电流变化不大,但集电极电压显著下降,可能导致管子进入饱和区,影响正常工作。调整电阻值可以优化电路性能,防止失真。

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利用“参数扫描分析”(Parameter Sweep Analysis)研究电阻变化对静态工作点的影响(以阻容耦合静态工作点稳定电路为例)

偏置电阻

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思路

改变偏置电阻 R b 22 R_{b22} Rb22<

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