光子模数转化

电子ADC 两个主要限制因素:
1、电采样时钟的时间抖动引入的噪声限制了ADC量化精度。
2、无法通过低重复频率、小模拟带宽的电子器件获得更高 采样率的采样时钟和更大带宽的采样门。

PADC可以大致分为四种:
光学辅助ADC
光采样电量化ADC
光量化ADC
全光ADC
四类光模数转换器

光学辅助ADC:电ADC通过光子学来改进一个或者多个受限的特性,但是采样和量化均在电域进行。
光脉冲时钟ADC:通过制作具有比电子开关更快上升沿时间和更低脉冲抖动的光电开关来完成电子采样过程
光学复制ADC:通过光学复制回路产生多个持续时间较短的模拟信号样本,然后通过多路低采样率电子ADC进行转换,从而达到提高采样率的目的,但该方案是以牺牲系统精度为代价的。
时间拉伸ADC
光信号在光纤中由于色散效应作用,形成啁啾光脉冲。在通过光电调制器后,时间上不同的信号被映射到不同的波长段,在调制器输出端光脉冲信号会在另一段色散介质中被展宽,信号在时域上被拉伸,在频域里将会缩小,这样就能降低对后端量化的带宽要求。展宽后的模拟信号的频率为原来的1/M,M为时间拉伸系数,从而系统的有效带宽提高了M倍,同时时间抖动也降低了M倍。所以时间拉伸系数越大,模数转换系统能。
时间拉伸系统结构图
光采样电量化ADC:在采样的过程中通过锁模激光器产生光脉冲序列作为采样时钟,并对模拟信号在光域里完成采样,但量化过程还是在电域里进行。光采样电量化 ADC系统的主要优点是该系统作为光源的锁模激光器具有较低的时间抖动。但这种ADC需要线性度比较高的电光调制器和光电探测器。
光采样电量化ADC结构图由于被动锁模激光器产生的光脉冲序列重复率一般为几百MS/s,因此在实际运用中经常采用光时分复用和波分复用技术倍增光脉冲序列的重复率,从而产生基于时间-波长交织的光学模数转换方案。
波分、时分结合光模数转换原理图电采样光量化ADC:在这类ADC中,用电的采样和保持电路产生的波形为阶梯形的信号来改变半导体激光器的波长。将信号分成N路后经过N个长度不同的滤波器然后产生数字化的格雷码输出。显然这种方法没有利用到光采样的优势,而且其性能会受到波长可调谐激光器的响应时间以及非线性度的影响。
全光ADC:采样光脉冲源、全光量化器和量化接收机。
全光模数转换原理示意图
全光量化器:用4个长度不同的调制器,使其长度差为2的整数倍,这样可以使每一路的输出都是一个比特位。将调制器的偏置电压设置为合适的值,其每一路的输出信号的强度可以作为驱动电压的函数。用一个阈值为I,的电比较器完成对输出信号编为格雷码的步骤。

其中最低有效位和最高有效位的电光调制器半波电压之间的关系为:
公式_1
b为量化比特位

全光量化器
移相光量化
基于空间光干涉的移相光量化原理
在空间M-Z干涉仪的一臂中加入一个相位调制器,待模数转换的模拟电信号通过该相位调制器来调制该路光脉冲的相位。在两臂干涉之后通过在不同的位置放置n个光电探测器来探测干涉之后的光强。
探测到的光强与探测器所处的位置x及相位调制m之间有如下关系:
公式-2
其中a,b代表MZM两臂信号强度,φm(t)=πVS(t)/Vπ为输入信号在相位调制器上所产生的相位调制,φ(x, i)表示由于探测器空间位置所引入的附加相移量。
利用这样一组周期相同、相邻两路相位差π/n的传输特性曲线,在输出光强最大值的二分之一处设置判决阈值,对于不同的输入信号幅度也可以获得相应的量化编码。和周期倍增型量化编码方式不同,移相量化编码输出为格雷码,n路输出可以实现的量化等级数为2n,对应量化比特数为log2(2n),其编码效率低于周期倍增型量化方案。
1
2
偏振干涉方案:其工作原理是通过调节偏振控制器,使采样光脉冲的偏振态与相位调制器中的x、y轴呈45°入射,通过调制器后x、y方向偏振分量之间的相位差与加载的模拟信号幅度呈正比。之后将采样光脉冲用耦合器均分为n个通道,在每个通道中加入一个固定相移模块使两个偏振分量之间引入(i-1)π/n固定相位差(其中i为通道编号)。最后每个通道经过一个45°的检偏器检偏输出,采样脉冲x、y方向两个偏振分量在输出端发生干涉。
3
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