halcon 偏折法_Halcon18新技术

一、Halcon新特性介绍

分为Halcon Progress和Halcon Steady两类：

Progress：发布周期短(半年)，更早拿到最新技术，订阅购买模式

Steady：发布周期长(2年)，长期支持服务，标准购买模式

1. 偏折法

17.12版本：适用于强发光下进行缺陷检测

18.05版本：也可用于弱反光下的缺陷检测

为了解决带有镜面反射的物体表面上例如凹陷和划痕检测所带来的挑战，HALCON 现在提供基于偏折法原理的视觉检测方法。该方法利用了镜面反射原理，通过观察已知图案在目标物体表面上的镜像图像及其变形来实现：

结构光的概念

结构光背后的基本概念是将已知图案显示在显示器上。这些图案击打物体表面后有助于进一步分析表面。要使用结构光，必须首先使用create_structured_light_model创建模型。 该模型类型在ModelType中指定。 目前，仅支持模型类型'Deflectometry’。 Deflectometry是从镜面或半镜面分析已知图案反射的程序。 在这样一个设置，对于投影在屏幕上的每个图案图像，获取反射的照相机图像。变形在相机图像中的图案暗示了镜面上的缺陷。

注意：该显示器为普通的显示器即可，但是不能被投影仪所替代

具体实现

1、准备工作(得到结构光图像)

create_structured_light_mode