DFT介绍

1. 可测试性特点

• 可控性：能够设定某些电路节点到某种状态或逻辑值
• 可观察：能够观测芯片内部节点的状态或逻辑值

2. 如何测试

1）建立模型

• 电路建模(circuit modeling)
• 故障建模(fault modeling)

2）ATPG

• Logic simulation
• Fault simulation
• Test generation

3）可测试设计

• Design for test（DFT）
  • ad hoc techniques
  • Scan design
  • Boundary Scan（JTAG）
• Built-in self test（BIST）
  • Random number generator (RNG)
  • Signature Analyzer (SA)

4）可测性综合

• 自动化或半自动化
• EDA工具
  • Testability analysis tools
  • Full / partial scan insertion
  • BIST insertion
  • Boundary scan insertion

5）测试与质量

缺陷程度DL(DPM)= 1 - Y ^(1-T)，其中

DL: defect level（缺陷程度per million）

Y: yield（产量）

T: fault coverage（故障覆盖率）

3. 建模

3.1 电路建模

3.2 故障建模

故障模型有：

• Single stuck-at fault
• Break faults
• Bridging faults
• Transistor stuck-open faults
• Transistor stuck-on faults
• Delay faults

其中Single stuck-at fault模型最常用

4. 测试矢量生成

为了检测D是否s-a-0，我们需要使得D为1，并在F端输出观测，因此测试矢量为：

A=1, B=1, C=0

5. 自动测试模型生成（ATPG）

给定一个电路，确定一组测试矢量检测所有故障

6. 测试策略

• BIST for large memories/arrays
• Special BIST for small buffers
• Scan for random logic
• Shadow registers where necessary
• Boundary Scan for test control and board level testing

7. 可测试设计flow

其中：

mentor本身的MbistAchitect在2009年已不再更新，MBIST插入目前主要基于mentor收购的LogicVision产品；

Design Compiler为Synopsys的综合工具

DFTAdvisor为mentor的scan-chain insertion工具

 

转载于:https://www.cnblogs.com/dxs959229640/p/9584429.html