【题解】芯片测试

题目描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

 

输入输出格式

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

　　第二行到第n+1行为n×n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i，j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

 

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号。

 

输入输出样例

输入样例

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

 

输出样例

1 3

 

题解

　　这道题表面上看起来是比较麻烦的模拟，但是可以根据其种好芯片比坏芯片多，即好芯片册数量占总数的一半以上，来判断是否是好芯片。

#include <iostream>
#include <cstdio>
#define MAXN 21

using namespace std;

int n;
int a[MAXN][MAXN];
int b[MAXN];

int main()
{
    cin >> n;
    for(register int i = 1; i <= n; i++) for(register int j = 1; j <= n; j++)
        cin >> a[i][j];
    for(register int i = 1; i <= n; i++) 
    {
        int num = 0;
        for(register int ii = 1; ii <= n; ii++) 
        {
            for(register int j = 1; j <= n; j++)
            {
                if(a[i][j] != a[ii][j]) break;
                else if(j == n) b[ii] = i, num++; 
            }    
        }
        if(num > n / 2) 
        {
            for(register int ii = 1, op = 0; ii <= n; ii++) if(b[ii] == i)
            {
                op ? putchar(' ') : op = 1;
                cout << ii; 
            }
            break;
        }
    }
    return 0;
}

参考程序

 

转载于:https://www.cnblogs.com/kcn999/p/10293077.html