什么叫pmt测试分析_直读分析光谱仪核心配件

目前,直读光谱仪根据核心部件可分成三种,PMT技术,CCD技术,CMOS技术,还有出现的拥有两种核心部件的直读光谱仪。如果一种器件真的已经能够替代另一种,并且性能优越,目前市场中就会消失一种,但是三种技术都存在,也是有原因的,存在即有道理,现在就让我们来了解这三种直读光谱仪的核心部件。

感光元件是直读光谱仪的核心,元器件的好坏关系到精密仪器的精度。直读光谱仪(OES)的核心元件有三种,一种是广泛使用的CCD(电荷耦合)元件;另一种是CMOS(互补金属氧化物半导体)器件,还有一种是PMT光电倍增管

PMT的直读光谱仪成本最高,CCD其次,CMOS的成本最低。世界上第一块CCD图像传感器在1970年诞生于贝尔实验室,此后很长一段时间CCD主导着图像传感器市场。CMOS图像传感器从90年代开始获得业界重视并且得到大量人力物力进行研发,由于CMOS图像传感器具有性价比高,体积小,功耗低等特点,逐步扭转市场格局。

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直读光谱仪核心部件——PMT光电倍增管

PMT技术的光谱仪

直读光谱仪精度最高的仪器为PMT技术,PMT器件原本成本不高,但一个PMT管对应一个波长的谱线,所以一个元素至少要配一根管子,每个通道都需要进行扫峰校正,如果要检测多种元素,造价就较之高昂了。

PMT仪器比较大型并且精度经过光电倍增管放大后较高,分析精度为10-7,分析精度高出10000倍,可进行超低含量分析。后续增加元素麻烦,更加适合高精度应用。大多数的检测CCD技术已足够,目前市场还是被CCD独霸,毕竟越是精密的仪器,对环境和其他因素更加敏感,限制颇多。

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直读光谱仪核心部件——CCD图像传感器

CCD技术的光谱仪

CCD可以称为CCD图像传感器,也叫图像控制器。CCD是一种半导体器件,能够把光学影像转化为电信号

CCD是于1969年由美国贝尔实验室(Bell Labs)的维拉·波义耳(Willard S. Boyle)和乔治·史密斯(GeorgeE. Smith)所发明的。CCD最突出的特点是以电荷作为信号,而不是电流或电压作为信号。

CCD的直读光谱仪是目前的主流,比起PMT技术,CCD技术可以实现多通道,并且增加检测的元素只要增加曲线,检测的效率也颇高,30秒可以得出结果。在直读光谱仪领域,CCD技术是比较成熟,应用多,占据市场的技术。

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直读光谱仪核心部件——CMOS

CMOS技术的光谱仪

CMOS(互补金属氧化物半导体),工作原理与CCD相比没有本质的区别,它应用在电脑主板,相机,甚至是光谱仪行业,甚至是但是不管哪个行业,任何一种新技术取代旧技术都需要一个相当长的过程,光谱仪行业也不例外,CMOS价格低,中低端相机全部被CMOS取代,而通常高端摄像头都是CCD感光元件。

目前CCD仍然是主流,CMOS技术与之相比,还有一些缺陷等待解决,比如灵敏度差异,由于CMOS传感器的每个象素由四个晶体管与一个感光二极管构成(含放大器与A/D转换电路),使得每个象素的感光区域远小于象素本身的表面积,因此在象素尺寸相同的情况下,CMOS传感器的灵敏度要低于CCD传感器

由于CMOS传感器的每个感光二极管都需搭配一个放大器,而放大器属于模拟电路,很难让每个放大器所得到的结果保持一致,因此与只有一个放大器放在芯片边缘的CCD传感器相比,CMOS传感器的噪声就会增加很多。

CMOS技术为光谱分析技术的发展提供了更多的可能性,相信随着光谱技术的发展,CMOS技术一定也会取得长足的进步,让我们拭目以待。创想仪器拥有CCD与CMOS直读光谱仪,您需要哪种都可在创想寻找到,知道更多关于光谱仪的信息,请访问创想仪器官网。

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本文详细研究了光谱仪研发测试中单元测试、集成测试和系统测试测试方法与测试理论。以CCD火花光谱仪的研发测试为例,对设计的测试方法进行了实验验证。   光谱仪是目前最为成熟的金属分析仪器,具有分析速度快、准确、探测下限低等特点,而且还可以分析C、P、S等非金属元素,因此在金属分析领域具有不可替代的作用。光谱仪的发展主要是对光源的改进,经历了从火焰光源、流和交流电弧光源、高压和低压火花光源的发展过程。   从检测器上又分为以光电倍增管(PMT)为检测器的光谱仪和以CCD为检测器的光谱仪。以PMT为检测器的光谱仪的分光半径大,仪器的体积庞大,并且价格昂贵;而使用CCD为检测器的光谱仪具有全谱、体积小等特点,具有非常好的市场前景。 目前国内对CCD火花光谱仪的开发处于刚刚起步的阶段,相关的测试研究也相对滞后。因此对CCD火花光谱仪测试理论与方法的研究具有重大的指导意义。本论文以CCD火花光谱仪的研发过程为依托,详细研究了光谱仪中单元测试、集成测试和系统测试测试方法,并进行了相关的测试实验,发现设计的测试方案可以很好的指导相关的测试工作。   以下是本文的主要内容: 首先,介绍了国内外光谱仪的研究现状,论述了研究光谱仪测试理论与方法的意义。 其次,讲述了相关的测试理论以及V模型和W模型的特点。 第三,详细分析光谱仪的工作原理和结构特点,提出了光谱仪的研发测试方案。 第四,研究了单元测试的特点和光谱仪中光学和光电器件的测试方法。并且以此为指导,设计了详细的测试方案,测试了紫外镀膜CCD的光谱响应度和光栅的衍射效率,验证该测试方案的可行性和通用性。 第五,研究了集成测试的特点和光谱仪中集成测试的方法,以CCD火花光谱仪为例论证了测试方法的可行性。 第六,研究了系统测试的特点和光谱仪中系统测试的方法,以CCD火花光谱仪的系统测试为例对测试方法进行了实验验证。 最后,对整个论文工作进行了一个总结,并指出了下一步关于CCD光谱仪测试研究工作的内容及方向。

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