X射线衍射的扫描方式包括连续扫描和步进扫描。连续扫描适用于大2θ范围的定性分析，如从20°到80°，数据点间隔0.02°，扫描速度4°/min，总耗时15min。扫描速度和数据点间隔的合适组合至关重要，影响峰强度和对称性。
扫描方式及其用法
多晶体
X
射线衍射方法一般都是
θ
-2
θ
扫描。
即样品转过
θ
角时，
测角仪
同时转过
2
θ
角。这个转动的过程称为扫描。
例如，我们要对样品进行
物相鉴定时，需要测量
2
θ
=5
°
-80
°
范围内的衍射谱，这个测量过程就
称为
“
扫描
”
。扫描的方式一般分为两种：连续扫描和步进扫描。
连续扫描
是指测角仪的连续转动方式，
测角仪从起始的
2
θ
到终止的
2
θ
进行匀速
扫描。其参数主要有两个，一个是数据点间隔，另一个是扫描速度。
扫描速度是指单位时间内测角仪转过的角度，通常取
2
°
/min
，
4
°
/min
或
8
°
/min
或
16
°
/min
等。数据点间隔是指每隔多少度取一个数据点。
一般来说，两个参数需要组合。若数据点间隔取
0.02
°
,
则步长可取
4-8
°
/min
。不当的组合会引起衍射峰强度的降低、衍射峰型不对称、
或峰位向扫描方向一侧移动。
连续扫描一般用于做较大
2
θ
范围内的全
谱的扫描，适合于定性分析。
例如：用连续扫描方式，从
20
°
扫描到
80
°
，数据点间隔为
0.02
°
，扫描
速度为
4
°
/min
。所需要的时间为：(
80-20
)
/4=15min
。从这个计算
过程来看，实验时间与数据点间隔无关，连续扫描一般用时较少。
一般来说，如果
X
光管的功率较低或实际使用功率较低或光管使用时
间较长，
为了获得更加清晰的图谱和较高的强度，
需要使用较慢的扫
5
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