xrd连续扫描和步进扫描_测样需知|X射线衍射仪技术（XRD）专篇 提高检测效率 你我有责...

温馨提示：敬告同学们及客户朋友，关于 X射线衍射仪技术(XRD)的测样注意事项如下，请在自行准备样品时注意这些要求，进而提高测样效率，节约时间：1、固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。2、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。3、对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变)，测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。4、粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。材料与器件检测技术中心原位X射线粉末衍射仪品牌及型号为Bruker D8Advance，材料测试温度范围最高达到1600°C，电池原位测试低温最低至-40°C，中温测试为室温-100°C，该原位X射线粉末衍射技术可解决的科研、技术创新问题如下所示：1.当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。2.很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。3.新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。4.产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可