硬件开发的那些事

电池热拔插导致的BOOST升压不稳定分析

前言

目前消费类电子大多数定义为便携式产品,因此大部分都具有电池,因此在产品测试阶段,需要测试电池的热拔插对产品的影响,一般的操作步骤为反复拔插电池,测试后级电路的基本功能是否正常。

一、问题点

产品研发阶段,测试单电池供电时,发现BOOST升压电路存在阶梯上升,上升电压超出后级电路的耐压值,导致烧毁。设计电路如下所示:
Boost升压电路

二、测试过程

调试过程中,让Q6处于常闭状态,因此电池插入瞬间,BOOST电路就有电压输出。通过调整反馈电阻R138=56.2k,R48=18k,预设输出电压接近5V,实测输出VFB=1.238,因此VOUT=VFB*(1+R1/R2)=5.1V。后级电路的耐压值最大为5.5V。
调试过程,在电池热拔插时,出现大概率烧后级电路的问题,后级为一个耳放电路,上电时,无音频信号,只有电源供电,可以判断是供电电压大于耳放芯片的耐压值,导致耳放芯片烧毁,因此,通过示波器抓取5V供电的波形如下图所示:

Boost升压电路输出波形
而耳放芯片的电源范围为:
耳返供电规格

可以电池热拔插阶段,BOOST电路给出的5V出现阶梯现象且最大值超过5.5V,因此存在烧毁耳放芯片的风险,在查看BOOST芯片原理图发现:耳放参考电路

这与我们的预设值存在偏差,因此更改电路后,单独测量BOOST电路的输出,抓取波形并未发现阶梯波形且最大值不超过5.2V,但是当将耳放IC加入电路后,手动快速热拔插电池,依旧出现小概率耳放芯片烧毁现象。抓取波形如下:
更改后的输出电压

当可以看出,BOOST输出由于后级系统上电后,存在拉载回勾上冲现象,最大电平可达6.5V,大于后级电路的耐压值,因此容易烧毁后级耳放芯片,这种拉载回勾现象可以用一直简单的抽水现象理解,当用水量大于供水量,水库可能存在截断的可能,存在下冲,因此它会加大生产水,此时供大于求,存在上冲。因此我们可以在中间级设计一个大的蓄水池,后级需要多大水,先冲蓄水池去抽,而不会让前级受影响,产生误生产大量水的操作。故此问题的解决方案有以下方法:第一种就是在BOOST输出级加一个大电容,稳住输出电压,等系统上电时,不会抽取太多能量,影响BOOST电路输出的稳定性。另外一种就是通过软件控制上电时序,增加耳放供电的控制电路,等BOOST输出稳定后,打开耳放的供电,这时不容易出现上冲现象。

总结

电路设计中,各部分电压的稳定性关乎着产品的一致性,前期研发阶段,应全面考虑不同的应用场景,硬件设计要预留解决方案。本问题中国,应该前期主要通过硬件调试,所以对电源的时序并不能控制,硬件上因为未预留大电容,导致USB热拔插,导致后级电源不稳定,烧坏耳放,对问题点进行原理性分析,提出有效地解决方案,吸取了相关教训,为以后设计提醒,故写下相关文档,进行记录,谢谢大家的阅读,这里是南大的小二,一位入门的音频硬件工程师。

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